先分享一个我之前碰着的比较故意思的小插曲，在做医疗电子设备的那段韶光，有一天，我的一个同事很愉快地找到我，说要让我不雅观察一个特殊奇怪的征象，他用热风枪对着一款心电旗子暗记采集板加热，这个时候我看到示波器上采集到的旗子暗记在一直地发生漂移，旗子暗记不断地变大直到涌现了饱和，这是一个非常范例的温度漂移征象，加温的过程导致心电旗子暗记放大电路的阻容值发生了较大地变革，造成增益变大。
由于那个时候电路板的芯片集成度不是很高，以是我的同事花了很大的力气才办理了这个问题，首先对付电路里关键位置的阻容采取低温漂元件，然后采集处理器里的温度传感器温度，末了测定温度和输出旗子暗记对应的曲线关系，全体的过程非常的繁芜，但是确实有效，这种方案可以被称为是温度反馈法。
再来看一个案例，也是我经历过的一个小问题，我们都知道光学器件对付温度的敏感度是很高的，这一点我从供应商的沟通过程中也可以很清晰地理解到，他们常日在给我发资料的时候都会很谨慎地补充一句，以上参数和曲线仅限于室温条件，对付我来说这个回答无异于见告我，你须要自己实际丈量干系的参数，有些时候为了达到最优性能，你不得不采纳一种办法，把这些光学器件搬到自己设计的“温室”里。
这里提到的“温室”便是我要采纳的办理方案，事理上可以这么理解，在对应的光学器件周围设计一些可以发热的元件，加上温度传感器最为反馈，通过开启这些功率器件来实现主动加温，确保光学器件的温度保持在一定的范围之内，这样它的事情特性也就固定了，这个办法非常适宜于一些须要快速丈量的场合，能够在很短的韶光之内把元器件的输出特性稳定下来，这种方案可以被称为是控温法。
末了来说一下文章开头提到的我最近碰着的小麻烦，几个月前一个朋友找到我要实现一个无损检测的设备，由于他之前的供货商非常的不合营，导致后面的客诉非常的多，在万般无奈的情形下找到了我们，为了能够让大家更好地理解接下来的办理方案，我先来讲一下这个设备的事理，实在这个设备的事理类似于无线旗子暗记的调制解调，用已调旗子暗记对被测物体发射旗子暗记，旗子暗记经表面和物体内部两部分辐射之后返回被设备的吸收天线获取，从而打算出物体的密度。
在现场测试的过程中，这个朋友创造了一个问题，旗子暗记彷佛会逐步地变大，只须要几分钟的韶光，丈量的结果就会大大超过许可值，他向我们反馈了这一问题，我仔细地查看了电路，原来我们之前忽略了温度的影响，导致射频前真个放大器增益逐步地发生了漂移，捉住了问题的关键点，我想到几个方案，一种是最大略地方案，用低温票系数的电阻大略粗暴地办理所有问题，这样的方案最节省韶光和本钱。
第二种办理方案是采纳软件的办法，设置内部自检旗子暗记，每次丈量之前用自检旗子暗记丈量全体系统的温度漂移影响，然后将这种影响作为正式丈量的一个系数加入到终极结果的运算当中，也便是采取算法改动的办法，这样的方案好处是有利于后续产品升级，不改变原有硬件设计，缺陷是须要耗费一定的韶光优化算法。
当总体来说，办理温漂的关键在于能够用一种办法实现元器件对付环境温度的完备“免疫”，你可以采取大略的一招制敌，也可以多种方案齐头并进，如果想要实现完美的性价比，那就须要仔细地琢磨一下了。
