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专利择要显示,本发明公开了一种芯片测试系统及方法,属于芯片测试技能领域。系统包括芯片承载板、旗子暗记转换器和测试主机,个中,芯片承载板用于承载待测芯片:旗子暗记转换器用于测试主机接口与GPIO接口之间旗子暗记的转换;测试主机基于芯片功能网表天生自动测试程序,进一步实行自动测试程序并通过旗子暗记转换器向待测芯片输入测试旗子暗记,同时获取芯片反馈的旗子暗记,根据芯片反馈的旗子暗记确定测试结果。本发明能够随时知足芯片设计公司的芯片测试需求,提高芯片测试效率,且本钱低。
本文源自金融界


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