华兴源创取得集成测试板卡、芯片测试系统及芯片测试方法专利有利于实现高效稳定的测试_测试_模块

专利择要显示，本申请涉及芯片测试技能领域，详细公开一种集成测试板卡、系统及测试方法。
装置包括中断产生模块、主控模块及功能测试模块：中断产生模块用于在吸收到测试终端发出的测试指令时，产生第一中断触发旗子暗记；主控模块相应于第一中断触发旗子暗记，获取与测试指令对应的测试参数信息，并根据测试参数信息配置功能测试模块，以使功能测试模块对待测芯片进行测试；主控模块还用于在功能测试模块测试完毕后产生应答指令，并发送应答指令至中断产生模块；中断产生模块还用于在吸收到应答指令时，产生第二中断触发旗子暗记，并发送第二中断触发旗子暗记至测试终端，以关照测试终端获取测试结果。
上述集成测试板卡节约了测试终端大量的资源，有利于实现高效稳定的测试。

本文源自金融界