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专利择要显示,本发明履行例供应一种波的偏移量的确定方法、装置、设备和存储介质。个中,所述方法包括:获取所述波在第一事情温度下的损耗数据;判断所述损耗数据是否知足预设指标的哀求;在所述损耗数据知足所述预设指标的哀求的情形下,基于所述损耗数据和所述预设指标确定所述波在所述第一事情温度下的目标偏移量。通过获取所述波在第一事情温度下的损耗数据,结合所述损耗数据对应的所述预设指标的哀求,确定所述波在所述第一事情温度下的目标偏移量,根据所述目标偏移量筛选芯片,担保了成品合格率的同时,也提升了芯片的利用率。
本文源自金融界







