文章目录
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1. 逻辑剖析仪（Logic Analyzer）：用于捕捉数字旗子暗记并将其显示为波形图形式，以便剖析和调试数字电路。
2. 示波器（Oscilloscope）：用于丈量和剖析仿照旗子暗记，并将其显示为波形图形式。
3. 稳压电源（Stabilized Power Supply）：用于供应恒定的电压和电流输出，以进行可靠的芯片测试。
（图片来自网络侵删）
4. 特定运用芯片测试设备（Application Specific Integrated Circuit Test Equipment，简称ASIC测试设备）：用于测试特定类型的芯片，例如模数转换器或数字旗子暗记处理器。
5. 半导体参数剖析仪（Semiconductor Parameter Analyzer）：用于检测半导体器件的电学性子，包括电阻、电容和电流等。
6. 时钟测试设备（Clock Testing Equipment）：用于测试芯片的时钟频率和稳定性。
7．芯片测试座百度上的定义是ic测试座(测试插座)是对ic器件的电性能及电气连接进行测试来检讨生产制造毛病及元器件不良的一种标准测试设备。实际上，芯片测试座，又称IC socket，实在定义没有那么繁芜，它只是为了知足某种芯片某种测试需求的内联器（interposer）。它是一个IC和PCB之间的静态连接器，它会让芯片的改换测试更为方便，不用一贯焊接和取下芯片，这样的话，就不会损伤芯片和PCB，从而达到快速高效的测试。
以上是一些常见的芯片测试设备，当然还有其他不同种类的设备。根据不同的芯片类型和测试需求，工程师和制造商可以选择不同类型的设备进行测试和剖析。
