芯片须要做哪些测试呢？紧张分三大类：芯片功能测试、性能测试、可靠性测试，芯片产品要上市三大测试缺一不可。
功能测试看芯片对不对
性能测试看芯片好不好
可靠性测试看芯片牢不牢
1、NSAT-2000电子元器件自动测试系统可以进行功能测试：便是测试AD芯片/DA芯片的参数、指标、功能：例如位数、采样率、输入或输出极性、范围、输出速率、精度等参数，从而判断AD芯片/DA芯片的质量。其事情事理便是搭建一个“仿照”的芯片事情环境，把芯片的接口都引出，检测芯片的功能，或者在各种严苛环境下看芯片能否正常事情。
2、NSAT-2000电子元器件自动测试系统的可靠性测试：在AD芯片/DA芯片制造过程中由于制造工艺和制造环境等多种缘故原由，可能会使制造后的电路涌现各种各样的物理毛病，比如线与线之间、层与层之间涌现短路或者涌现开后等，这都会导致制造后的AD芯片/DA芯片与预期不符，乃至影响到整机的事情。提高电子元器件的可靠性。
3、NSAT-2000电子元器件自动测试系统的失落效测试：要使AD芯片/DA芯片可以可靠的事情，还要剖析确定其失落效机理，找出失落效缘故原由，从而履行纠正方法。NSAT-2000电子元器件自动测试系统可以借助各种测试剖析技能和剖析程序确认电子元器件的失落效征象，分辨其失落效模式和失落效机理，确认终极的失落效缘故原由，提出改进设计和制造工艺的建议，防止失落效的重复涌现。
4、NSAT-2000电子元器件自动测试系统的老化测试：可完成在不同的温湿度环境、振动环境下，自动测试并实时采集AD芯片/DA芯片的老化特性的性能指标数据。压源掌握电路在掌握器的掌握下，掌握电压的通和断，从而为芯片的老化测试供应了使芯片在短韶光内不断的经历上电和掉电过程的测试环境，旗子暗记检测电路检测该芯片老化测试数据，通过对该测试数据进行剖析，即可得到芯片的老化性能，从而得到芯片的利用寿命。
以上便是NSAT-2000电子元器件自动测试系统对AD/DA芯片进行自动化测试的方案分享，这是一个快速发展的时期，自动化的测试终将取代传统手工的测试，带给我们更多惊喜。
