华为公布芯片测试电路及电路测试方法的新发明_测试_电路

据先容，该专利可用于EDA软件中对芯片电路进行测试，用于办理目前的测试方案中的绕线拥塞和测试配置繁芜的问题。

解释书指出，该测试电路将测试向量的输入数据通过测试总线的输入传输至数据分发电路中，通过数据分发电路传输至被测电路)的扫描输入通道，被测电路扫描结束后，被测电路的扫描输出通道的测试向量的输出数据通过数据分发电路传输至测试总线的输出完成被测电路的测试。

解释书表示，通过对第一选择器的配置实现数据分发电路与测试总线的动态对应关系，从而使得测试资源能够得以动态分配，极大程度地优化了绕线拥塞的问题，以便降落测试本钱，并且可以简化配置过程，从而提高测试效率。