长鑫存储申请半导体检测治具及其控制方法、测试系统专利专利技能能节省接触状态确认时间加快测试进程降低人工成本_测试_电路板

专利择要显示，本公开是关于半导体技能领域，涉及一种半导体检测治具及其掌握方法、测试系统。
本公开的检测治具包括载板和测试模组，个中：载板用于承载测试模组；测试模组包括测试电路板、待测单元、打仗判断电路以及显示组件，个中：测试电路板包括测试电路；待测单元位于测试电路板阔别载板的一侧，并与测试电路打仗连接；打仗判断电路位于测试电路板与载板之间，用于检测待测单元与测试电路的打仗状态，打仗状态包括打仗正常和打仗不良；显示组件位于测试电路板顶部，用于在打仗状态为打仗正常时显示第一显示状态，并在打仗状态为打仗不良时显示第二显示状态。
本公开的检测治具可节省打仗状态确认韶光，加快测试进程，降落人工本钱。

本文源自金融界