IC测试是指依据被测器件（DUT）特点和功能，给DUT供应测试勉励（X），通过丈量DUT输出相应（Y）与期望输出做比较，从而判断DUT是否符合格。图1所示为IC测试的基本事理模型。
根据器件类型，IC测试可以分为数字电路测试、仿照电路测试和稠浊电路测试。数字电路测试是IC测试的根本，除少数纯仿照IC如运算放大器、电压比较器、仿照开关等之外，当代电子系统中利用的大部分IC都包含有数字旗子暗记。
图1 IC测试基本事理模型
数字IC测试一样平常有直流测试、互换测试和功能测试。
1.2、功能测试
功能测试用于验证IC是否能完成设计所预期的事情或功能。功能测试是数字电路测试的根本，它仿照IC的实际事情状态，输入一系列有序或随机组合的测试图形，以电路规定的速率浸染于被测器件，再在电路输出端检测输出旗子暗记是否与预期图形数据符合，以此判别电路功能是否正常。其关注的重点是图形产生的速率、边沿定时掌握、输入/输出掌握及屏蔽选择等。
功能测试分静态功能测试和动态功能测试。静态功能测试一样平常是按真值表的方法，创造固定型（Stuckat）故障。动态功能测试则以靠近电路事情频率的速率进行测试，其目的是在靠近或高于器件实际事情频率的情形下，验证器件的功能和性能。
功能测试一样平常在ATE（Automatic Test Equipment）上进行，ATE测试可以根据器件在设计阶段的仿照仿真波形，供应具有繁芜时序的测试勉励，并对器件的输出进行实时的采样、比较和判断。
1.3、互换参数测试
互换（AC）参数测试因此韶光为单位验证与韶光干系的参数，实际上是对电路事情时的韶光关系进行丈量，丈量诸如事情频率、输入旗子暗记输出旗子暗记随韶光的变革关系等。常见的丈量参数有上升和低落韶光、传输延迟、建立和保持韶光以及存储韶光等。互换参数最关注的是最大测试速率和重复性能，然后为准确度。
1.4、直流参数测试
直流测试是基于欧姆定律的，用来确定器件参数的稳态测试方法。它因此电压或电流的形式验证电气参数。直流参数测试包括：打仗测试、泄电流测试、转换电平测试、输出电平测试、电源花费测试等。
直流测试常用的测试方法有加压测流（FVMI）和加流测压（FIMV），测试时紧张考虑测试准确度和测试效率。通过直流测试可以判明电路的质量。如通过打仗测试判别IC引脚的开路/短路情形、通过泄电测试可以从某方面反响电路的工艺质量、通过转换电平测试验证电路的驱动能力和抗噪声能力。
直流测试是IC测试的根本，是检测电路性能和可靠性的基本判别手段。
1.5、ATE测试平台
ATE（Automatic Test Equipment）是自动测试设备，它是一个集成电路测试系统，用来进行IC测试。一样平常包括打算机和软件系统、系统总线掌握系统、图形存储器、图形掌握器、定时发生器、精密丈量单元（PMU）、可编程电源和测试台等。
系统掌握总线供应测试系统与打算机接口卡的连接。图形掌握器用来掌握测试图形的顺序流向，是数字测试系统的CPU.它可以供应DUT所需电源、图形、周期和时序、驱动电平等信息。
1.6 ATE测试向量的天生
对大略的集成电路，如门电路，其ATE测试向量一样平常可以按照ATE向量格式手工完成。而对付一些集成度高，功能繁芜的IC，其向量数据弘大，一样平常不可能依据其逻辑关系直接写出所需测试向量，因此，有必要探寻一种方便可行的方法，完成ATE向量的天生。
在IC设计制造家傍边，设计、验证和仿真是不可分离的。其ATE 测试向量天生的一种方法是，从基于EDA工具的仿真向量（包含输入旗子暗记和期望的输出），经由优化和转换，形成ATE格式的测试向量。
依此，可以建立一种向量天生方法。利用EDA工具建立器件模型，通过建立一个Test bench仿真验证平台，对其供应测试勉励，进行仿真，验证仿真结果，将输入勉励和输出相应存储，按照ATE向量格式，天生ATE向量文件。其事理如图5所示。
图5 ATE向量天生示意图
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