华微电子取得一种探针台及芯片测试系统专利无需更换额外部件即可在一个探针台长进行单面芯片和双面芯片的测试_探针_芯片

专利择要显示，本申请公开了一种探针台及芯片测试系统，探针台包括载片台、可拆卸固定件、第一探针、第二探针以及第三探针，为办理干系技能中单面芯片和双面芯片由于构造不同须要不同的探针台进行芯片测试的问题，在待测芯片被配置为双面芯片时，第一探针、第二探针和第三探针被配置为双面芯片测试构造进行芯片测试，在待测芯片被配置为单面芯片时，第一探针、第二探针和可拆卸固定件被配置为单面芯片测试构造进行测试，利用了可拆卸固定件参与测试回路的形成，无需设置额外的部件或者改换额外的部件即可在一个探针台上进行单面芯片和双面芯片的测试，进而减少芯片检测所需设备数量，在降落设备本钱的同时提高设备利用率。

本文源自金融界