广立微申请存储芯片检测方法专利提高存储芯片检测结果的准确性和实时性_暗记_芯片

专利择要显示，本申请涉及一种存储芯片检测方法、装置及打算机设备。
存储芯片检测方法包括：配置主程序、中断程序以及中断旗子暗记；中断程序包括读写中断程序；将中断旗子暗记与中断程序进行关联；运行主程序，并在中断旗子暗记发生时中断主程序运行中断程序；获取存储芯片基于中断程序反馈的读写结果，并基于读写结果对存储芯片进行检测结果剖断，不仅提高了存储芯片检测结果的准确性，还提高了存储芯片检测的实时性。

本文源自金融界