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阿拉巴马大学电子与打算机工程系助理教授Biswajit Ray博士说，消费电子产品利用周期可能只有一年，但个中的组件可能会“活上“十年之久。拆解回收报废的印刷电路板并假冒新部件带回市场已经成了公开的秘密。这些假冒部件耐用性有限而随意马虎产生不良影响，但是在利润面前这一家当正不断发展壮大。
造假者越来越精明，让辨别电子系统中的组件是全新还是回收变得困难。闪存芯片用于存储数据，其造假危害性特殊高。Ray博士表示，“闪存成为造假的紧张目标，它在大多数电子系统中有着广泛的运用。但是检测回收闪存颗粒的方法具有寻衅性。”他和他的研究团队提出了一种结合存储器时序特性统计分布与故障位数的组合方法来检测假冒闪存。
此前多数研究职员专注通过闪存失落效位数和读写速率来判断芯片新旧、是否经由翻新造假。但心的研究结果表明，闪存写入擦除韶光是更好的闪存“年事”鉴别指标，即便只经由了数个写入-擦除周期，也能检测到显著的延迟增加。研究团队表示，即便闪存在被回收前只利用了3%的擦写寿命，新算法也能准确辨别出它不是全新的。这项技能“价格低廉、无损，无需额外硬件，现在正在对温度和电压变革等成分进行更多测试。”
该团队已经提交了多项专利申请以保护他们的算法，并操持在未来推出智好手机运用程序或浏览器扩展程序来帮助识别假冒闪存芯片。他们并不肯望从这项努力中得到个人利益，而更乐意研究创造能够帮助保护国家根本举动步伐的安全：假冒闪存耐用性不可靠，如果在关键运用中涌现闪存失落效可能回造成灾害性的后果。
