便携式闪烁离线仿照器件测试器 Gleam off-line Emulator piece Test
一.紧张功能及把稳事变
1. 测试单,双,四运放IC的功能好坏.
2. 测试555--8p类,3842～3845--8p类IC的功能好坏.
3. 测试1MHz～50MHz--2p～3p晶体振荡器的好坏.
4. 测试2p～3p的各种发光二极管的好坏.
离线测试盒的盒盖内有一操作示意图，实际操作时方便参考。本离线测试盒内置有三节3V的纽扣电池，计9V,可携带现场等场合利用。也可外接15-18V的（互换或直流均可）适配器，外接电源接入后还可给盒内电池充电。本离线测试盒测试的芯片，只要功能一样，对应引脚与以下被测芯片同等的其他同类芯片，均能正常测试。
二.离线测试有关电子器件先容如:
1.测试LED发光二极管，正常时待测二极管将闪烁发光。对二脚和三脚发光管均可测试。
2.测试NE555脉冲发生器8脚芯片，芯片正常时，对应发光管将闪烁发光。
3.测试SG3842电源管理器8脚芯片，芯片正常时对应发光管将发光，把稳，因这类芯片哀求事情电压较高，故此时应按压右边的测试按钮。
4.测试LM324N四运算放大器14脚芯片，芯片正常时对应四个发光管将闪烁发光，如某一个发光管不闪烁，即表明对应的这组运算放大器有问题。
5.测试LM741单运算放大器8脚芯片，芯片正常时该发光管会闪烁发光。
6.测试TL082双运算放大器8脚芯片，芯片正常时两只发光管将闪烁发光，如某个发光管不闪烁，则解释这组运算放大器有问题。
7.测试SC14.3181M二脚晶体振荡器，晶振正常时对应发光管将发光，如测试时对应发光管发光亮度明显较暗，解释该晶振可能已靠近失落效。对一样平常大于1M的二脚，三脚晶体振荡器均能给予测试。
本测试实例请参看有关视频。
图1.操作面板
图2.操作示意图
