即每片汽车芯片在出厂时，均能在知足芯片所哀求的利用工况下正常利用，各项性能指标均达到规格书哀求。
一样平常情形下，我们常常利用消费类产品小家电和玩具等，消费类芯片坏品率在100-300个PPM旁边，即芯片出厂坏品率在0.01%~0.03%旁边。
批量生产时，只要不超出这一坏品率范围，芯片厂家实际上并不以为这是他们产品出了问题。在工业级芯片中，这一数字可能在几十块PPM旁边。并且在汽车级中，该值为0，即汽车级芯片上不能涌现坏品。
而且所有能称为汽车级芯片的器件，都必须要在规格书中标 AEC-Q 的标识。
AEC 是美国汽车电子协会（ Automotive Electronics Council ）的缩写而 Q 便是 Qualification，认证，以是 AEC-Q 便是美国汽车电子协会认证的意思。认证有很多个标准，我们常见的不同数字代表不同的类型。
100 代表的是集成电路，例如 MCU， 各种电源芯片；
101 是分立元件，比如各种 MOS ， 二三极管；
102 是 LED；
103 是传感器；
104 则是模组；
200 代表被动器件，也便是电容电阻。
在这些数字后面，有些规格书中可能还会标注，Grade1、Grade2这些信息。
这里的等级便是代表的温度，
下面的便是目前最新的4个等级温度。
Grade0 ：-40 ～150 °C
Grade1 ：-40 ～125 °C
Grade2 ：-40 ～105 °C
Grade3 ：-40 ～ 85 °C
之前很多小伙伴来我们平台咨询芯片问题的时候，很多人都以为车规便是 125 °C 或者 105 °C 的，在这里也再提醒一下，实在车规是有 85 °C 的器件。
人们在利用汽车时是否也常常创造各种各样电控配件涌现故障呢？
如倒车雷达故障，车机去世机等各类问题。
除电路设计存在不敷外，实际上很可能汽车厂家还没有将汽车级芯片运用于这些非关键电控中。
毕竟汽车级与非汽车级芯片之间的价差，最少要有一倍乃至数倍。
因此在一些盈利比较少的车辆中，各类与行驶安全无关的电控系统总涌现小问题不足为奇。
我以前私底下问过，ST 的市场职员“为什么没有车规级 STM32 ？”
他的回答是 “由于 STM32 ，从芯片设计上就无法知足 AEC-Q 的标准”
后面我也跟 NXP 的市场职员聊过，问为什么 NXP 的 MCU 没有办法跟 STM32 搞价格竞争？
他见告我 “由于他们用的是汽车级芯片的生产线”
虽然我并不能对这些论述的真伪进行评判，但亦可得知AEC-Q在芯片设计—流片—封测再到成品等各环节均有着一套完善的测试标准。这样常常使测试用度及原材料本钱倍增，利用者不得不支付高可靠性的用度。
如今，随着新能源汽车渗透率的不断提高，车上芯片的数目，也呈指数级递增。因此，芯片对付新能源汽车来说是至关主要。而从可靠性方面考虑，目前车规级芯片尤其是掌握器类车规级芯片除AEC-Q外还将加入认证。
那便是ASIL （ Automotive SafetyIntegrity Level）汽车安全完全性等级。
它是用来认证全体电控系统对各种风险的处理能力；哀求有预测并降落风险发生的能力；以及风险发生后的处理能力。
例如某新能源车型刹不住车导致车祸，还有充电充着充着就动怒，都可能是系统没有足够的风险预判能力和处理能力导致的问题。
1998 年制订的 IEC61508标 准，通过失落效概率定义了安全完全性等级—— SIL ，而 2011 年的 ISO26262 则是根据汽车的利用环境和特点定义了 ASIL 的等级，目前有 A 到 D 四个等级。
这四个等级紧张是根据危害事宜的严重性、发生的可能性以及在发生的时候人们去规避这类事宜造成生命财产受到危害的能力这三个方面来进行打分。
比如高速路上刹车失落灵与停车场挪车时刹车失落灵给人们生命安全带来的侵害风险等级完备不同。
个中第一流级为D级，正由于如此，许多芯片厂家都以产品得到ASIL-D认证为推广情由。
芯片ASIL认证实际上更多地是针对，芯片对系统性失落效与随机性失落效这两种状况的处理能力而言，系统性失落效便是指可以预见软硬件失落效问题。
比如代码BUG、硬件运行逻辑BUG等等。而随机性失落效是指芯片生命周期中随机发生的事宜。
例如掌握器被滋扰导致去世机，IO 跳变，或者内存涌现数据错乱这种无法预测的故障。
天下上没有百分百的安全，失落效是无法避免的事情，以是降落失落效发生的概率以及把这些失落效造成的丢失掌握在合理的范围内便是 ASIL 认证涌现的目的。
以是说关于 AEC-Q 和 ASIL 对付汽车级芯片的意义，前者相称于准考证，后者则是考试分数。
