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“大年夜芯片”的寻衅、模式和架构_芯片_体系

雨夜梧桐 2024-09-02 09:31:18 0

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在本文中,我们(指代本文作者等人)对“面积墙”进行了详细剖析,并提出了一种实用的办理方案——大芯片(Big Chip),作为一种新颖的芯片形式以提高性能。
我们先容了一种评估大芯片的性能模型并谈论了其架构。

末了,我们得出了大芯片未来的发展趋势。

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1、择要

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(图片来自网络侵删)

在深度神经网络 (DNN) 和科学打算日益遍及的推动下,云和边缘平台的利用率正在快速增长[1], [2]
进行人工智能演习所需的算力呈指数级增长,每 3.4 个月翻一番。
自 2012 年以来,该指标已增加了30多万倍。
然而,这些算法的打算强度相称大,仍旧是其实际支配的重大障碍。
因此,人们越来越须要提高芯片性能以知足更高打算能力的需求。
芯片的性能与以下三个成分有关:

D代表晶体管密度,一样平常与制造工艺和器件机制有关。
A代表芯片面积,与集成规模有关。
E代表架构成分,反响每个晶体管的性能,常日由芯片的构造决定。
我们将上述公式称为芯片性能的DAE模型。
因此,当利用相同的芯片架构时,改进晶体管尺寸和面积是增强芯片性能的两个关键方法。

集成电路 (IC) 的制造工艺在历史上一贯与摩尔定律同步发展。
目前,我们已经达到5nm工艺的量产阶段,3nm工艺正在稳步推进。
工艺节点的每一次打破都带来了性能的提高和功耗的降落。
然而,随着摩尔定律[2]和登纳德缩放比例[3]靠近极限,增加集成到单个芯片中的晶体管数量变得越来越具有寻衅性且本钱高昂[4]

随着晶体管尺寸的缩小变得越来越困难,集成更多功能单元的一种可行方法是增加芯片面积。
然而,扩大单芯片面积时可能涌现的一个主要障碍便是我们所说的“面积墙”。
面积墙是指由于制造技能和本钱的限定引申出的对单个芯片的面积限定。
芯片的制造依赖于光刻,芯片面积受到光刻孔径的限定[5]
由于掩膜版的尺寸和光学器件的物理特性,单个芯片最大曝光区面积限定为858mm(26mm 33mm)。
要增加最大曝光区面积,光刻系统必须取得重大进展,而这从本钱角度来看是一项寻衅。
此外,本钱是增加芯片面积的另一个寻衅。
在更前辈的工艺节点中,单位芯片面积的本钱会增加[6]
末了,对付大面积芯片来说,良率也是一个重大寻衅,这将导致制造毛病的发生频率更高,导致晶圆良率低落[7]

为了设计一种打破面积墙限定的芯片,我们提出了一种新颖的芯片形式,称为大芯片。
“大芯片”一词是指面历年夜于目前最前辈光刻机最大曝光区面积的芯片。
这种类型的芯片常日还具有大量晶体管,并利用半导系统编制造技能来实现。
大芯片有两个特点:首先,大芯片面历年夜,冲破了步进式光刻机的面积限定,将大量晶体管集成到一个芯片中,可以超过当前制造技能下单片芯片上集成的晶体管数量。
其次,大芯片由多个功能裸芯组成,并利用几种新兴的半导系统编制造技能将预制裸芯集成到大芯片中。
Cerebras利用平面制造技能实现晶圆级大芯片,面积达46,225毫米。
芯粒集成[8]、[9]、[10]、[11]、[12]、[13]、[14]、[15]、[16]也是一项有出息的技能,它将多个芯粒组合在单个封装内的中介层或基板上。
AMD和Nvidia分别于2019年[12]和2020年[17]推出了基于多芯粒架构的高性能处理器设计。
由于芯片面积较大,芯片性能得以大幅提升。

只管构建大芯片受到广泛关注,但该领域的综合剖析论文却稀缺且急迫须要。
本文对大芯片进行了详细剖析。
首先,我们详细剖析了面积墙,考虑到物理限定、良率和本钱。
在此剖析的根本上,我们进一步先容了可用于实现大芯片的潜在技能。
其次,我们提出了一个性能模型来辅导大芯片的设计和评估。
末了,我们给出了基于芯粒技能构建大芯片的架构实现办法以及未来的发展趋势。

2. 寻衅:芯片的面积墙

高性能打算系统须要更多的打算能力来支持许多领域的打算密集型事情。
更多的打算能力须要更多的集成晶体管,这可以通过更大的芯片面积和更密集的硅构造来实现。
然而,由于晶圆本钱、良率和更繁芜的设计规则问题,硅构造密度增长最近已经放缓。
因此,实现更高打算能力的最佳方法是集成更大的芯片。
然而,传统的单片集成存在面积墙问题,阻碍了芯片面积的增长。
幸运的是,多芯片集成技能可以显著削弱面积墙的影响。
本节我们将详细剖析造成面积瓶颈的三个缘故原由。

2.1 光刻曝光区面积限定

在当代光刻系统[5]、[18]、[19]中,掩膜版在倾斜入射光下曝光,来自掩膜版的携带信息的反射光经由一组光学器件,终极落在晶圆表面,如图1所示。
晶圆上的曝光图像实际上是掩膜版上图像的缩小,给定放大倍数 MAG,晶圆上曝光的图像尺寸为掩膜版上尺寸的1/MAG。
衡量表面上可以网络多少光的主要指标称为数值孔径,其定义为光锥张角一半的正弦值。
掩膜版和晶圆表面的数值孔径为 , ,个中如图 1 所示。
这两个数值孔径的关系式为[5]

有两种选择可以增加晶圆曝光区面积,设计更小的光学器件MAG,并增加掩膜版面积。
然而,这两种方案在目前的行业中都很难实现。

图 1. 光刻系统演示。

根据瑞利准则[20],更前辈的工艺节点哀求增加 。
这使得光学器件无法设计成较小的 MAG,由于根据公式2, 会随着增大而增大。
因此, 会变大,并迫使目标处的主光芒角(CRAO,如图 1 所示)变大,这样入射光锥和反射光锥就不会重叠。
然而,较大的 CRAO 会降落图像质量和掩膜效率。
因此,目前大多数前辈的光刻系统都采取 MAG = 4 的光学器件,而更前辈的工艺节点可能须要更大的 MAG。

假设光罩的宽度和长度分别为和 ,则曝光尺寸可用下式表示:

目前市场上最大的光罩尺寸为 6",剔除制造余量后的尺寸为 104mm×132mm。
由于目前前辈的光刻系统的 MAG = 4,因此目前的最大曝光尺寸为 26mm×33mm=858 mm²。
须要强调的是,我们的上述剖析紧张针对硅基芯片制造,并没有考虑 TFT(薄膜晶体管)制造等工艺。

2.2 良率限定

一贯以来,工业界都在寻求一个精确的模型来预测芯片的良率以辅导生产[21]
此外,良率模型对付探索可能的集成水平以辅导芯片设计也很主要。
人们提出了几种在不同假设条件下预测良品率的模型。
泊松良率模型假定毛病分布均匀且随机,这每每会低估大型芯片的良率。
Seeds模型引入了指数分布仿照芯片之间的毛病密度变革。
负二项式模型利用毛病密度和毛病聚类征象来确定良率,这种模型被广泛利用。
下式是预测单片芯片良率的负二项模型,个中 是取决于工艺节点的毛病密度, 是毛病聚类参数[21]

在此根本上,我们提出了通用多芯片系统的良率模型。
一样平常的多芯粒系统可抽象为几个部分,每个部分 又分为 个相同的芯粒。
中每个芯粒的面积为 ,个中 是 的总关键面积(关键一词是指打消芯片间模块),是芯片到芯片面积与关键面积之比。
由具有缺陷密度和聚类参数 、的加工节点制造,其良率可按单片情形预测。
我们建议,多芯粒系统的良率由所有部件的最小良率决定。
把稳,集成过程也会引入潜在的故障,因此集成良率也应计入系统良率。
假设键合芯粒的成功率为 ,为芯片 i(由 组成)的良率,定义为芯粒 i 的实际良率与目标良率之比:

单片集成在实现较大的芯片面积时,尤其是在工艺节点前辈的情形下,存在良率低的问题。
我们认为,在相同的良率目标下,多芯粒集成能比单片集成实现更大的芯片总面积。
在此,我们考虑了只有一个部件 P 的 K-chiplet 系统,并将其与单片芯片进行比较。
K-chiplet 系统良率的打算公式为

通过良率模型的反函数,我们可以分别建立单片系统和 K-chiplet 系统所能达到的最大关键面积模型如下:

由于多芯粒系统的良率肯定小于键合良率,因此 Y 存在一个内部约束条件,即Y<YbK。
等式 6 可以很好地阐明。
对付 AK-chiplet,第一个乘积项表明,更大的关键面积可以用更多的芯粒(更大的 K)来制造,但这受到芯粒与芯粒模块比例的阻碍。
第二个乘积项是反响集成过程开销的系数,表明集成开销阻碍了多芯粒系统的扩展。
在极度情形下,如果键合良品率为 100%,则该系数将变为 1。
实际上,第二项小于 1,并且随着 K 的增大而变小,这表明在集成更多芯粒时集成开销更高。

图 2 显示了在给定良率限定(横轴)下,利用单片和芯粒集成技能可实现的最大关键面积(纵轴)。
在相同的成品率限定下,利用更多芯粒进行集成常日能得到更大的关键面积。
此外,多芯粒系统还能轻松打破单片芯片的物理面积限定(虚线标记)。

图 2. 在良率限定下可制造的最大关键面积(平方毫米)。
左图和右图分别显示 5 纳米和 14 纳米工艺。
水平虚线表示 858 平方毫米的物理单片芯片面积上限。

2.3 本钱限定

制造本钱可根据集成系统各部分的良率和质料本钱估算。
对付单片芯片,本钱可以大略地用裸片良率和裸片本钱估算,个中良率用于摊销失落效裸片的本钱。
对付多芯粒系统,如文献[6]、[7]、[22]、[23]所述,本钱计入多个组成部件和集成过程。
我们对单片系统和多芯粒系统的制造本钱建模如下:

个中Gdie、Gint、分别为单位面积芯片和插层的原始本钱。
是将单位面积芯片键合到集成电路上的本钱。

根据这一本钱模型,我们再次比较单片系统和 K-chiplet系统的本钱效率,如图 2 所示。
我们将晶体管数量建模为晶体管密度乘以关键面积,并在图 3 中绘制出每个晶体管的本钱。
我们还在图 4 中绘制了系统本钱的比拟图。

图 3. 采取 5 纳米(左)和 14 纳米(右)工艺节点的不同关键面积(平方毫米)时每个晶体管的本钱。
本钱已归一化为图中最小单片芯片的本钱。

图 4. 采取 5 纳米(左)和 14 纳米(右)工艺节点的不同关键面积(平方毫米)时的系统本钱(任意单位)。

对付成熟的工艺节点(见图 3 和图 4 中的 14 纳米),单片系统的单位晶体管本钱和系统本钱均低于多芯粒系统。
然而,对付新节点和前辈节点,多芯粒系统在关键面积较大的情形下本钱更低。
请把稳,在图中,我们没有显示超过 858 平方毫米(虚线)的关键面积,由于它只能通过芯粒集成来实现。
同时,芯粒越多的系统本钱曲线增长越平滑,这表明在实现足够大的关键面积时,芯粒越多的系统本钱上风越明显。

3. 技能:冲破面积墙

大芯片由超过万亿个晶体管和数千平方毫米的面积(超过一个掩膜版)组成,目前可采取两种方法实现。
第一种方法是芯粒集成,即在中介层或基板年夜将多个芯粒组合在单个封装中。
2018 年,AMD 提出了 EPYC 处理器,利用 MCM(多芯片模块)技能集成了四个相同的芯粒[24]
华为也提出了基于芯片集成的做事器 SoC 系列[25]
通过台积电 CoWoS 技能,鲲鹏 920 SoC 系列集成了多个不同功能的芯粒。
第二种方法是晶圆级集成(WSI),即用全体硅晶圆构建超大型集成电路。
1980 年,Trilogy System 为 IBM 大型机进行了晶圆级集成的早期考试测验[26]
这种集成将芯片间的通信放在晶圆上,从而降落了芯片间通信的延迟和功耗。
然而,良率和光刻问题导致 Trilogy System 的晶圆级集成失落败[26]
Cerebras System 于 2019 年实现了晶圆级引擎-1(WSE-1)[27],并于 2021 年实现了晶圆级引擎-2(WSE-2)[28]
这两种方法都能大大提高芯片的性能。
然而,大芯片的设计和实现也面临着一些寻衅,包括制造和封装、设计本钱和 IP 重用、良率和散热。
不才面的章节中,我们将深入磋商这些寻衅以及芯片集成和晶圆级集成所供应的办理方案。

制造和封装。
在大芯片中,确保裸片封装具有高性能和可靠的裸片间互连非常主要。
在标准制造中,划线是将芯片与相邻芯片分开的区域。
为了实现晶圆级集成,须要在划片线上铺设大量导线,以实现晶圆上的芯片互连。
例如,Cerebras System WSE-1[27]利用了最新提出的台积电 InFO_SoW 封装技能[29],如图 5(a)所示,在刻线上添加导线,实现了网状互连,其线路密度和带宽密度是 MCM 的 2 倍。
芯片设计不须要在刻线上添加导线来连接芯片,而是在有机基板或硅插层[24]、[30]上实现裸片之间的通信,从而供应更灵巧、更多样化的芯片布局选择。
封装是晶圆级集成的另一个寻衅。
在考虑大规模晶圆和 PCB 的封装时,有必要减轻晶圆和 PCB 因受热而产生的不同热膨胀的影响,从而提高封装的可靠性[27]
此外,在封装过程中还必须考虑大型晶圆和 PCB 之间相互浸染造成的影响,如机器应力。
为了提高封装性能,一些缓冲应力的元件(如连接器)被用来缓解这些问题[27]
然而,额外引入的连接器增加了封装的难度。
须要确保晶片、连接器和印刷电路板之间的凸点精确对齐。
目前,还没有一种可靠的封装工具能担保这种对齐哀求,因此须要重新开拓一种新的定制封装工具[27]
如图 5(b)[4]所示,片式集成供应了多种成熟且经由验证的 2D/2.5D/3D 封装技能,这些片式封装的可靠性也已在一些研究中得到证明[31],[32]

图 5. 芯片级集成与晶圆级集成的制造和封装比较[4], [29]。

设计本钱和 IP 重用。
在构建大芯片时,须要考虑设计韶光和干系本钱,个中 IP 重用是帮助降落设计本钱的常用方法。
由于晶圆级集成是在同一晶圆上实现所有芯片,因此晶圆上的每个芯片都是通过相同的工艺实现的[27]
这导致系统设计存在两个毛病。
首先,晶圆级集成降落了利用成熟且前辈的工艺的可能性。
其次,晶圆级集成的特点是系统紧密,晶圆上的芯片很难作为功能组件重复利用[33]。
芯片 IP 重用方案如图 6 所示。
系统运用被分解成许多基本功能裸芯,然后进行逻辑组合和物理集成。
与晶圆级集成比较,芯粒封装技能支持对异构工艺制造的芯片进行集成。
它许可以高性能为目标的主要工艺单元通过前辈工艺来实现,而其他单元(例如IO)可以通过成熟工艺来实现,从而提高打算能力并最小化本钱[34]
此外,所实现的芯粒作为预组件或IP,可以不才一代设计中重复利用,这显著缩短了设计韶光并降落了设计本钱[35]
因此,chiplet集成通过IP复用带来了降落设计本钱的突出上风。

图6 芯粒IP 复用表

良率。
基于多芯粒系统的大芯片的整体良率是一个更值得关注的成分。
Chiplet集成和晶圆级集身分离引入了Known Good Die(KGD)[36]方法和冗余设计[27]来提高整体良率。
由于器件和环境成分的影响,很难担保晶圆上的每个芯片都是好的,这意味着对付晶圆级集成来说,不可避免地会导致晶圆上的芯片涌现毛病。
此外,由于一些晶圆级集成设计在划片中添加了互连线,因此划片区域中涌现的毛病也会危害良率。
为理解决良率寻衅,Cerebras 提出了冗余设计,个中包括 1.5%额外的核心[27]
作为类似的晶圆级集成设计,Trilogy System的芯片引入了2倍冗余设计[26]
这种冗余设计许可禁用有缺陷的芯片,然后用冗余芯片更换,冗余芯片与其他良好芯片的链接将在构造上重修,从而避免由于有缺陷的芯片而导致片上网络和通信的性能低落。
然而,冗余设计和重新连接增加了设计开销,并且须要设计者和代工厂之间紧密的协同设计。
相反,芯粒技能有利于提高整体良率。
芯粒有两个方面的良率提升。
第一个是通过减小单个芯片尺寸来提高良率[37]
基于芯粒技能,可以用小芯片集成大芯片。
随着芯片尺寸变小,良率也会提高。
提高良率的第二个层次是利用已知良好芯片(KGD)[36]进行封装。
芯粒技能不是从晶圆上切割最大的正方形,而是从晶圆上切割单个芯片,只许可封装通过老化测试的单个芯片,从而提高良率。

散热。
随着大芯片中集成的晶体管数量越来越多,芯片的功耗猛增,大芯片的功耗可以大得惊人。
因此,散热就成为一个关键问题。
在晶圆级集成中,WSE [27]开拓了冷平面和定制连接器来办理散热和热效应。
热量通过水和芯片之间的打仗而被带走。
在当前的芯粒集成中,引入散热器来散热[30]
与带有大型水冷系统的晶圆级集成比较,带有小型散热器的芯粒集成的散热办理方案在移动和边缘运用中更加灵巧。

4. 模型:评估大芯片

4.1 性能需求模型

大芯片系统的巨大规模带来了新的寻衅,例如对内部芯粒的片外访问和长间隔通信的限定。
高度的可定制性以及广泛的集成技能和架构使得很难确定特定市场的最佳设计[38]
在这种情形下,须要一个通用性能模型来深入理解大芯片设计的关键方面,并为架构改进供应辅导,包括集成技能选择、并行性、互连和内存层次构造设计、片外带宽等

我们提出了一个性能模型来表征不同规模区域的性能瓶颈。
只管并不完美,但该模型供应了对关键方面的见地,可以提高给定设计的性能上限。
我们首先阐明如何推断该模型,重点关注数据通信和并行性,这是决定系统性能的关键成分。
然后,我们确定了提高不同区域峰值性能的方法,并解释了模型在某些方法下如何变革。

4.2 性能模型外推

我们研究大芯片系统扩展时的性能变革。
为了兼顾数据通信和并行性等方面,我们选择面积(A)作为表示系统规模变革的变量。
造玉成部系统处理延迟的紧张成分有三个,即打算、片外访问和芯片间(或内核间)通信。
这三个部分的延迟可大略打算为:

个中,CA 指打算能力,BWoff-chip指芯片外带宽,BWintra-chip指芯片间或内核间带宽。
个中,αoff-chip和 αintra-chip是归一化的数据移动量,分别表示每次打算(以 B/op 为单位)从片外存储器和芯片(或内核)之间移动的数据量。

现在,我们须要弄清楚CA、BWs和A之间的关系。
随着系统规模的扩大,采取特定设计的大芯片的打算能力呈线性增长。
其关系可表示为:

cd指的是打算元件的密度,fcomputing指的是打算频率。
在某种设计中,可以通过将芯片(或内核)中的打算元件数量按其面积划分来估算cd。

芯片外访问带宽与芯片周长成正比,由于 I/O 支配在芯片边缘。
如果我们将 I/O 密度视为特定设计,那么芯片外带宽与面积之间的关系可估算为:

个中,bωof f-chip表示沿芯片边缘的芯片外带宽密度,单位为 GB ps/mm。
它也可以表示为 I/O 密度与数据传输频率的乘积。

当涉及芯片间或内核间通信延迟,有两个基本假设。
第一个假设是总线上的数据传输是同时进行的。
在这种假设下,片内通信延迟该当是所有总线延迟中的最大值:

第二个假设是,大芯片系统的扩展紧张取决于相同基线设计的重复性,基线设计可以是芯片或内核的设计。
那么,每个基线设计的带宽(即等式 11 中的BWi)可视为常数。
因此,芯片内通信延迟可表示为:

然后,我们推断总延迟与这三个决定性部分的关系。
在此,我们引入了另一个与上述第一个假设类似的新假设,即打算、芯片外访问和芯片内通信同时运行。
那么我们有:

由于性能与延迟成反比,我们可以得出:

这是在估算延迟时的一个极度假设,还有另一个极度假设,即这三个操作是完备相继进行的。
那么总延迟即是所有三部分延迟的总和。
实际情形介于这两个极度之间。
纵然在这种极度情形下,我们也可以假设每个区域都有一个部分主导总延迟,那么表达式就与公式 14 相同。
将等式 9、10 和 12 代入等式 14,我们就得到了作为芯片面积函数的终极性能模型:

这三个部分的分别是与面积成正比、与面积的平方根成正比和随面积变革而不变。
在其他参数取值不同的情形下,性能模型的趋势该当有三种可能,如图 7 所示。
在图 7(a)所示的平衡模式中,性能模型被划分为 3 个区域。
在芯片面积较小的第一个区域,打算能力不敷是性能的关键瓶颈。
随着系统规模的扩大,片外访问阻碍了并行打算资源增加所带来的性能增长。
在这一区域,性能以越来越慢的趋势持续增长,当片内通信发挥主导浸染时,性能达到顶峰。
在打算密集型和打算稀疏型模式中,打算资源的充足与否导致没有打算主导或片外主导区域,如图 7(b) 和 7(c) 所示。

图 7. 性能模型的三种可能趋势。

4.3 与单片多核和多芯片系统的比较

我们将芯粒系统的性能模型与单片多核和多芯粒系统的性能模型进行比较,以证明大芯片系统的性能上风。
我们利用的基线设计参数来自AMD的“Zepplin”SoC及其第一代EPYC TM 芯粒处理器[39]
我们假设三个别系的打算能力和片外访问是相同的,那么唯一的差异在于“片内通信”区域。
芯粒间和芯片间通信由“Zepplin”SoC 上配备的无限构造 (IF) 和 PCIe 分别供应[39],片外带宽密度通过将其两通道 DDR4 带宽除以SoC 的长边长度。
我们设置αoff-chipαintra-chip分别为 6 和 4。
性能曲线如图8所示。

图 8. 芯粒组、单片多核和多芯片系统的性能模型比较。

空想情形下,由于内核间带宽的限定较少,单片芯片比其他两个别系具有更高的峰值性能。
然而,单片设计面临着步进式光刻机最大区域尺寸带来的“区域墙”的巨大寻衅,这阻碍了性能的增长。
为了连续系统扩展,转而采取传统工艺下的多芯片集成技能,在性能曲线上表现为随着面积的增加,渐近线向多芯片设计线发展(图中未标出这一趋势)。
由此,我们可以推断出大芯片系统的高性能可扩展性的上风。

4.4 性能优化

性能优化方法常日可分为三个层次:事情负载映射、架构和物理设计。
在性能模型中,优化表现为曲线函数或位置的变革。
在接下来的章节中,我们将首先以三维堆叠为例,阐明物理设计如何改变性能曲线的形状,然后解释αoff-chipαintra-chip在我们的模型中扮演的角色及其主导成分。

模型形状的优化。
我们采取Tetris 芯粒加速器[40]的2D集成和3D堆叠实现来证实物理设计,特殊是集成技能,通过改变性能曲线的形状来从根本上优化芯片性能。

2D 和 3D 实现的紧张差异在于片外访问办法。
2D Tetris利用 LPDDR3,符合等式 10 中的关系。
3D Tetris利用稠浊存储器立方体(HMC)[41], [42]作为三维存储器基板,与逻辑芯片垂直面对面堆叠,通过高速硅通孔(TSV)通信,那么片外带宽应与面积成正比,如公式 16 所示。

这里,bwoff-chip,area的单位是GBps/mm²

如图 9 所示,我们可以得到两种实现办法的性能模型,个中芯片间带宽来自传统的 HMC 设计。
由于采取了高度并行的处理元件,虽然频率不是很高(500MHZ)[40],但打算能力非常强,因此在这两种方案中都不会成为瓶颈。

图 9. Tetris二维集成设计和三维堆叠设计的性能模型比拟。
三维堆叠优化改变了模型曲线的形状。

虽然 3D 实现仍旧受到最大硅片面积的限定,但与 2D 设计比较,3D 实现的片外瓶颈区域大大缩小,纵然芯片面积较小,也能轻松达到峰值性能,这归功于 3D 存储器堆叠技能供应的丰富布线资源和高速传输。
从这个例子中我们可以看出,一项设计事情可能不会对系统的性能做出贡献,但却能在设计者感兴趣的区域带来突出的改进。

αoff-chipαintra-chip的浸染。
αoff-chip指芯片与芯片外存储器之间传输的数据量,αintra-chip指通过总线互连的两个芯粒或内核之间传输的最大数据量。
虽然它们都是与数据量有关的变量,而且在上文的谈论中假定它们与芯片面积保持不变,但它们会受到芯片内存容量和互贯串衔接构等架构设计的影响。

αoff-chip取决于运用,即打算所需的数据量、事情负载映射、调度策略以及架构设计,尤其是芯片内存容量。
片外访问的数据量由两部分组成:由事情负载所需的数据量决定的恒定部分,以及由无效的事情负载映射策略或片上内存容量不敷造成的冗余部分。
随着映射和片上内存比例的改进,数据局部性可以得到优化,αoff-chip也会相应降落,然后在片外区域涌现性能曲线,如图 10(a)所示。

图 10. αoff-chip和αintra-chip的影响。

αintra-chip由运用、芯片内存容量和互贯串衔接构决定。
运用和片上存储器会影响每个芯片上的数据位置。
互联结构的影响可以从更广阔的角度来阐述。
考虑到在两个节点之间传输固天命量的数据,它们之间的路由越多,分配到每条路由上的数据就越少,从而导致每条总线传输的数据量减少,最大值也是如此。
与网状设计比较,Cmesh 是一种能实现较低αintra-chip值的互连设计。
αintra-chip值的降落可提高芯片设计的峰值性能。

5. 架构:构建大芯片

大芯片的架构设计对性能有重大影响,与内存访问模式密切干系。
在内存访问模式方面,与传统的多核处理器设计考虑将多核集成在单个裸片上访问内存不同,大芯片设计侧重于多个多核裸片访问内存系统。
根据内存访问模式,大芯片可以分为对称芯粒架构、NUMA(非均匀内存访问)芯粒架构、集群芯粒架构和异构芯粒架构。
在接下来的章节中,我们将以利用芯粒技能构建大芯片为例,从性能、可扩展性、可靠性、通信等方面谈论这些大芯片架构的特点。

对称芯粒架构。
如图 11(a)所示,对称芯粒架构由许多相同的打算芯粒组成,它们通过路由器网络或芯粒间资源(例如中介层)访问共享的统一存储器或IO。
芯粒可以设计为具有本地缓存的多核构造,或者具有多个处理元件的NoC构造。
统一内存可以被所有芯粒平等地访问,这表示了UMA(统一内存访问)的效果。
我们现在谈论对称芯粒架构的三个紧张优点。
首先,对称芯粒架构许可多个芯粒实行指令以供应高打算能力。
事情负载可以分成小块,然后分配给不同的 芯粒,以加快运用程序的实行速率,同时保持不同芯粒之间的事情负载平衡。
其次,这种对称的芯粒架构供应了从不同芯粒到内存的统一延迟,无需考虑NUMA等分布式共享内存系统中的远程访问或内存复制,从而节省了由于不必要的数据移动而导致的延迟和能耗。
第三,对称芯粒处理器还供应冗余设计,其他芯粒可以接管故障芯粒的事情,从而提高系统可靠性。
由于共享内存,对称芯粒处理器可以在不增加额外私有内存的情形下增加芯粒的数量。
然而,当对称芯粒架构连续扩大芯粒数量时,互连设计将受到物理布线的严重限定。
办理高带宽芯粒间通信和内存要求冲突也具有寻衅性。
请把稳,增加 芯粒 的数量可能会增加不同 芯粒 对存储器的要求冲突,这会危害系统性能。
均匀而言,内存带宽由芯粒划分。
增加芯粒的数量会减少每个芯粒分区内存带宽。
工业界和学术界的一些设计采取了对称芯片架构。
Apple M1 Ultra 处理器[43]采取了芯粒集成设计,具有两个相同的 M1 Max 芯片,具有统一的内存架构设计。
芯片上的核心可以访问高达 128GB 的统一内存。
Fotouhi [44]提出了一种基于芯粒集成的统一内存架构,以战胜间隔干系的功耗和延迟问题。
Sharma [45]提出了一种通过板载光学互连共享统一存储器的多芯片系统。

图 11. 大芯片处理器的架构。

图 12. 大芯片不同架构之间的比较。

NUMA-芯粒架构。
NUMA芯粒架构包含通过点对点网络或中心路由器互连的多个芯粒,并且NUMA芯粒架构的存储器系统由所有芯粒共享但分布在架构中,如图11 (b)所示。
芯粒可以采取共享缓存的多核设计,或者通过NoC互连的PE的设计。
而且,每个芯粒可以占用自己确当地存储器,例如DRAM、HBM等,这是其差异于对称芯粒架构的最明显特色。
只管这些连接到不同芯粒的存储器分布在系统中,但存储器地址空间是全局共享的。
共享内存的这种分布式放置会导致 NUMA 效应,即访问远程内存比访问本地内存慢[46]
NUMA-芯粒 架构考虑了一些优点。
从单个芯粒的角度来看,每个芯粒都拥有自己的内存,具有相对私有的内存带宽和容量,减少了与其他芯粒的内存要求的冲突。
此外,芯片与内存的紧密放置供应了数据移动的低延迟和低功耗。
此外,在NUMA-芯粒架构中,通过高带宽点对点网络或路由器互连的多个芯粒可以并行实行任务,从而提高系统性能和兼容性。
这种 NUMA 芯粒架构具有很高的可扩展性,由于每个芯粒都有自己的内存。
然而,随着 NUMA-芯粒 架构扩展到更多的芯粒,设芯粒到芯粒互连网络变得具有寻衅性。
此外,随着芯粒数量的增加,编程模型的本钱和难度也随之增加。
有一些设计采取 NUMA-芯粒 架构。
AMD 的第一代 EPYC 处理器将四个相同的芯粒与本地内存连接起来[39]。
对内存确当地访问和远程访问之间的延迟差异可达 51ns [46]。
在AMD的第二代EPYC处理器中,打算芯粒通过IO芯粒连接到内存,这显示了NUMA-芯粒架构[34]。
另一种范例的 NUMA-芯粒 架构设计是 Intel Sapphire Rapids [47]。
它由四个芯粒组成,通过 MDFIO(多芯片构造 IO)连接。
四个芯粒组织为 2x2 阵列,每个芯片充当 NUMA 节点。
Zaruba [48]架构了 4 个基于 RISC-V 处理器的芯粒,每个芯粒都有三个分别与其他三个芯粒的链接,以供应非统一的内存访问。

集群芯粒架构。
如图 11(c)所示,集群芯粒架构包含许多芯粒集群,统共有数千个核心。
采取环形、网状、一维/二维环面等高速或高吞吐量网络拓扑来连接集群,以知足此类超大规模系统的高带宽和低延迟通信需求。
每个集群由许多互连的芯粒和单独的内存组成,并且每个集群都可以运行单独的操作系统。
集群可以通过通报的办法与其他集群进行通信。
通过高性能互连实现强大集群互连的集群-芯粒架构显示出高可扩展性并供应巨大的打算能力。
作为一种高度可扩展的架构,集群芯粒架构是许多设计的根本。
IntAct [30]集成了 96 个内核,这些内核在有源中介层上分为 6 个芯粒。
6 个芯粒通过 NoC 连接。
Tesla [49]发布了用于亿级打算的Dojo系统微架构。
在 Dojo 中,一个演习图块由 25 个 D1 芯粒组成,这些芯粒排列为 5x5 矩阵样式。
通过 2D 网格网络互连的许多演习块可以形成更大的系统。
Simba [1]通过 MCM 集成,利用网状互连构建了 6x6 芯粒系统。
芯粒 内的 PE 利用 NoC 连接。

异构芯粒架构。
异构芯粒架构由不同种类的芯粒组成,如图11(d)所示。
同一中介层上的不同种类的芯粒可以与其他种类的芯粒互补,协同实行打算任务。
华为鲲鹏920系列SoC [25]是基于打算芯粒、IO 芯粒、AI 芯粒等的异构系统。
Intel Lakefield [50]提出了将打算芯粒堆叠在根本芯粒上的设计。
打算芯粒集成了许多处理核心,包括CPU、GPU、IPU(根本举动步伐处理单元)等,根本芯粒包含丰富的IO接口,包括PCIe Gen3、USB type-C等。
在Ponte Vecchio [51]中,有两个根本tile利用EMIB(嵌入式多芯片互连桥)互连。
打算tile和 RAMBO tile堆叠在每个根本tile上。
Intel Meteor Lake处理器[52]集成了GPU tile、CPU tile、IO tile和SoC tile。

对付当前和未来的亿亿级打算,我们预测分层芯粒架构将是一种强大而灵巧的办理方案。
如图11 (e)所示,分层芯粒架构被设计为具有分层互连的多个内核和多个芯粒。
在芯粒内部,内核利用超低延迟互连进行通信,而芯粒之间则以得益于前辈封装技能的低延迟互连,从而在这种高可扩展性系统中实现片上延迟和NUMA效应可以最小化。
存储器层次构造包含核心存储器、片内存储器和片外存储器。
这三个级别的内存在内存带宽、延迟、功耗和本钱方面有所不同。
在分层芯粒架构的概述中,多个核心通过交叉交流机连接并共享缓存。
这就形成了一个pod构造,并且pod通过芯粒内网络互连。
多个pod形成一个芯粒,芯粒通过芯粒间网络互连,然后连接到片外存储器。
须要仔细设计才能充分利用这种层次构造。
合理利用内存带宽来平衡不同打算层次的事情负载可以显著提高芯粒系统效率。
精确设计通信网络资源可以确保芯粒协同实行共享内存任务。

6. 构建大芯片:我们的实现

为了探索大芯片的设计和实现技能,我们架构和设计了一个基于 16 芯粒的 256 核处理器系统,命名为浙江大芯片。
在此,我们将先容所提出的大芯片处理器。

浙江大芯片采取可扩展的基于瓦片的架构,如图13所示。
该处理器由 16 个小芯粒组成,并且有可能扩展到 100 个小芯粒。
每个芯粒中都有16个CPU 处理器,通过片上网络(NOC) 连接,每个tile 完备对称互连,以实现多个芯粒之间的通信。
CPU处理器是基于RISC-V指令集设计的。
此外,该处理器采取统一内存系统,这意味着任何tile上的任何核心都可以直接访问全体处理器的内存。

图 13. 浙江大芯片概况

为了连接多个小芯粒,采取了芯片间 (D2D) 接口。
该接口采取基于时分复用机制的通道共享技能进行设计。
这种方法减少了芯片间旗子暗记的数量,从而最大限度地减少了 I/O 凸块和内插器布线资源的面积开销,从而可以显著降落基板设计的繁芜性。
小芯粒终止于构建微型 I/O 焊盘的顶部金属层。
浙江大芯处理器采取22 nm CMOS工艺设计和制造。

7. 前景与寻衅

除了提高打算能力,大芯片还将促进新型设计方法的发展。
我们预测,近存打算和光电打算将是主要的研究方向。

7.1 近存打算

由于打算事情量大量集中在芯粒中,片外存储系统常日具有大略的存储数据和IO的功能。
对付数据局部性较差的运用,频繁发生片内缓存未命中,导致须要从片外存储看重新加载数据。
大量芯粒和内存之间频繁的数据移动可能会导致额外的延迟和高能耗。
在对称芯粒架构中,总线拥塞会使这种情形恶化,从而降落系统性能。
为理解决这些问题,可以利用近数据处理来引入近存打算,将处理和内存单元与高带宽互连紧密放置,以最大限度地提高系统性能。
近存打算冲破了传统内存层次构造的性能限定。
3D 堆栈内存是近存打算的一个很好的例子,其作为容量、带宽和性能限定的办理方案而受到越来越多的关注。
在3D堆叠存储器中,多个DRAM芯粒垂直堆叠在底部逻辑芯粒上,TSV实现芯粒之间的电气连接,表现出芯粒间数据传输的高带宽。
位于堆叠存储器底部的逻辑芯粒可以进行相对大略的数据处理,承担部分打算事情量。
近存打算的另一种方法是增加片内缓存的容量,以在片上保留更多数据,而不是频繁调度片内和片外数据。
AMD提出了3D V-cache技能,在Zen3共享的32MB L3缓存上堆叠64MB缓存,统共实现96MB L3缓存。
Cerebras WSE 乃至实现了 18GB 片上内存。

7.2 光电子打算

光电子打算已成为办理电气设计瓶颈的潜在方案,尤其是用于芯片间通信的电气 IO,随着高带宽需求的增加,这一瓶颈变得更加突出 [53]、[54]、[55]
目前,电气互连的数据速率、引脚数和引脚间距都受到串扰等旗子暗记完全性问题的限定。
此外,一些引脚被保留用于电源/接地引脚等非通信目的,进一步降落了引脚利用率,加剧了阻碍芯片间高带宽通信的互连物理限定。
然而,限定芯粒之间的间隔可能会导致与远程芯粒通信的多跳,这进一步影响系统性能。

本定亲义的光 IO 处理器是未来的一项主要技能,它利用 IO 芯片和光学设备促进高带宽通信。
光 IO 处理器能战胜传统电气互连的旗子暗记完全性限定,使其成为办理上述电气设计问题的有吸引力的办理方案。
研究[53]、[54]、[55]、[56]、[57]解释了高性能、低能耗光 IO 实现和封装的可行性。

7.3 寻衅

大芯片虽然可以实现强大的打算能力,但仍面临良率、散热和性能等紧张寻衅。
首先,大芯片的集成步骤较多,受器件、技能、环境等成分影响,难以担保高良率。
虽然 KGD 等方法可以提高良率,但也必须考虑毛病芯片的设计本钱。
其次,散热是大芯片设计中的一个主要问题,大量芯片会产生大量热量。
因此,散热系统和低功耗设计至关主要。
末了,大芯片设计中的任务映射和设计空间探索履行起来具有寻衅性。
此外,在芯粒集成中,必须考虑不屈均带宽效应。

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