海光信息申请芯片机能及功耗分析方法专利降低芯片分娩制造初期对芯片机能分析的本钱投入_芯片_机能

专利择要显示，本申请履行例供应一种芯片性能及功耗剖析方法、装置及干系设备，芯片性能及功耗剖析方法包括：通过对所述标准单元模型进行仿真，得到各种型晶体管对标准单元性能及功耗影响的第一影响参数组；根据所述第一影响参数组和标准单元利用比率，得到各种型晶体管对芯片性能及功耗影响的第二影响参数组；根据所述第二影响参数组和不同类型晶体管利用比率，得到不同产品器件目标值对芯片性能及功耗影响的第三影响参数组，判断产品器件目标值对所述芯片性能及功耗影响。
使得得到芯片样品前的芯片性能剖析时的资源花费减小，且芯片性能剖析时的测试数据减少，从而在担保时效性的条件下，降落芯片生产制造初期对芯片性能剖析的资源投入。

本文源自金融界