长鑫存储申请芯片测试电路及存储器专利实现准确靠得住的片选旗子暗记测试_时钟_暗记

专利择要显示，本申请供应一种芯片测试电路及存储器，包括：采样模块基于采样时钟对连续的多个片选旗子暗记进行采样，记基于奇时钟采样得到的数据为奇数据，记基于偶时钟采样得到的数据为偶数据；运算模块基于奇数据和偶数据进行比拟运算，得到运算结果；输出模块在输出时钟处于第一状态时，实时获取运算结果，以及用于在输出时钟处于第二状态时，锁存当前的运算结果以及停滞获取新的运算结果并输出锁存的运算结果，第一状态和第二状态互为反相，输出时钟的周期为单个片选旗子暗记的长度，输出时钟的上升沿与最先采样到片选旗子暗记的采样时钟的上升沿对齐。
本方案能够实现准确可靠的片选旗子暗记测试。

本文源自金融界