FIB是什么?
首先,FIB不是FBI,不要搞混了。FIB,全名Focused Ion Beam,即聚焦离子束。类似于SEM(扫描电子显微镜),SEM 利用聚焦电子束对样品进行成像。

FIB的基本事理?
镓在强电场下被加速,产生高能离子束。通过掌握电场和磁场,使离子束在样品表面上精确移动,扫描样品表面。高能离子束轰击样品表面,导致表面原子被溅射出来,同时产生二次电子。二次电子被检测器捕获,用于成像和剖析。
为什么FIB如此主要?
FIB有三大浸染:
1,芯片截面剖析。FIB可以以纳米级的精度对芯片进行截面切割,创造芯片内部的构造毛病。一样平常的FIB集成了二次离子质谱或EDS或EDX,可以剖析样品不同层次的元素分布和浓度。这是FIB在晶圆厂中最主要的浸染。
2,芯片电路的修正。FIB 可通过离子束勾引沉积来沉积材料,也可以通过高能镓离子撞击样品来刻蚀材料,因此可以用于芯片的修复或掩模版的修复。
3,TEM制样。TEM 须要非常薄的样品,常日约为100 纳米或更薄。如果芯片上数百万个晶体管中有一个涌现故障,那么唯一能够制备该单个晶体管的电子显微镜样本的工具便是 FIB。
FIB的价格贵吗?
设备极贵,在一些微纳加工平台,每小时的利用价格在2000-3000RMB之间。
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