TN402
A
10.16157/j.issn.0258-7998.173333
中文引用格式:江平,黄春良,叶宝盛. 一种具有新型延时单元的鉴频鉴相器设计[J].电子技能运用,2018,44(4):44-47,51.
英文引用格式:Jiang Ping,Huang Chunliang,Ye Baosheng. Design of phase frequency detector with a novel delay unit[J]. Application of Electronic Technique,2018,44(4):44-47,51.
0 弁言
电荷泵锁相环(Charge Pump Phase Locked Loop,CPPLL)因其易集成、低功耗、大动态捕获范围和小静态相位偏差等优点而广泛运用于侦测、导航、雷达、通信等设备中[1-3],其性能直接决定系统各项指标的好坏。范例CPPLL频率合成器由鉴频鉴相器(Phase Frequency Detector,PFD)、电荷泵(CP)、环路滤波器(LPF)、压控振荡器(VCO)和可编程分频器(DIV)组成,如图1所示。
PFD是CPPLL的核心部件之一,完成输入参考旗子暗记与反馈旗子暗记(即VCO经DIV分频后的旗子暗记)频率和相位的检测[4],产生后级CP充放电电流的开关掌握旗子暗记。在该掌握旗子暗记浸染下,CP对LPF充放电,使VCO的调谐电压发生相应的变革,进而改变VCO的谐振频率。VCO振荡输出旗子暗记经DIV分频后参与鉴频鉴相,由此构成闭环反馈系统,实现锁相倍频功能。常日PFD存在去世区效应[5],鉴相去世区将造成锁相环输出相位抖动,恶化杂散和相噪特性,而减小乃至肃清去世区效应的紧张办法是改进其复位电路,增加延时单元,增大复位延时treset。但treset增大会使鉴相范围减小,捕获速率变慢[6]。
为此,本文基于TSMC 0.18 μm RF CMOS工艺,设计了一款具有数控延时单元的PFD,既肃清了去世区效应,又能担保良好的鉴相范围和捕获速率。同时,采取基于传输门和反相器的数控构造,扩展性和移植性强,对工艺、电压、温度等参数的变革不敏感,具有较强的适应性。
1 PFD的事情事理
图1中所示PFD是一种范例的三态数字鉴频鉴相器构造,因其电路大略而被广泛运用。该PFD由两个D触发器和一个与非门组成[4],实现输入参考旗子暗记REF和反馈旗子暗记FB频率和相位的比较,输出与之匹配的UP和DN旗子暗记,掌握电荷泵的事情状态(充电、放电或保持)。
假设该PFD初始状态时,REF和FB都为低电平,当REF上升沿先到来时,由其驱动的D触发器被触发,UP变为高电平。当FB上升沿到来时,由其驱动的D触发器被触发,DN变为高电平。此时UP和DN均为高电平,与非门产生复位旗子暗记,将两个D触发器复位,UP和DN均变为低电平。上述过程为REF相位超前时的PFD的事情环境,由类似剖析,可得REF相位滞后时PFD的事情环境。可得,该PFD存在4种事情状态,即UP和DN分别为00、01、10和11。个中11是一个瞬时状态,是被禁止的,一旦涌现,D触发器会因复位而迅速进入00状态,状态转换关系见图2。
根据对PFD事情事理的剖析,可以预见其事情波形如图3所示。当REF频率高于FB频率时,UP输出为不同脉宽的不规则脉冲旗子暗记,DN输出保持低电平,且频差越大,UP的均值越大。在UP旗子暗记浸染下,CP充电岔路支路间断性开启,使调谐电压升高,从而使VCO频率往高端调谐,因此REF和FB旗子暗记的频差减小。此阶段为PFD的鉴频过程。当REF和FB旗子暗记的频差减小为零时,PFD进入鉴相事情状态。假设此时REF频率即是FB频率且相位超前,则UP输出脉宽正比于两者相位差的周期性脉冲旗子暗记,DN输出保持低电平,UP旗子暗记浸染又使PFD进入鉴频事情状态。在CPPLL频率合成器未锁定时,PFD一直地在鉴频和鉴相事情状态之间动态调度,直至达到频率合成器锁定,此时REF和FB旗子暗记的频率相同,相位同步,从而担保了VCO输出的频率和相位稳定。REF频率低于FB频率以及两者频率相同时,REF相位滞后FB相位情形的事情过程与上述过程类似。
2 PFD电路设计与仿真
2.1 PFD的去世区效应
上节着重剖析了PFD的事情事理,并得到了其空想事情波形见图3。当输入参考旗子暗记REF与反馈旗子暗记FB的相位差很小时,UP或DN的脉冲宽度非常窄。由于结点电容的存在,会使得这个窄脉冲无法升到足够高的电平,从而无法正常开启电荷泵。即当PFD的输入相位差Δφ小于某个特定值φ0时,CP没有充放电电流存在,CPPLL已进入锁定状态,但FB旗子暗记相位与REF旗子暗记相位无法精确同步,VCO输出旗子暗记存在相位抖动,导致相位噪声和杂散特性恶化。该相位差为-φ0~φ0的区域被称为PFD的去世区[5],是PFD设计的紧张关注点。
2.2 PFD的电路设计
为肃清去世区,需在PFD复位岔路支路上增加延时单元,担保在输入相位差纵然为零的情形下,UP和DN依然存在一定脉宽的脉冲。但考虑到工艺、电压、温度等变革,难以准确给出该延时的是非。过短的延时无法有效肃清去世区,但过长的延时又会限定PFD的事情速率,因此需使复位延时足够长,同时要尽可能短。基于上述考虑,本文设计了一种新型数控延时单元,通过配置3 bit掌握字,实现8种不同是非的延时,灵巧配置,切换延时是非,有效肃清去世区,优化环路性能,实际电路如图4所示。
D触发器采取真单相时钟(TSPC)逻辑设计,见图4(b),其构造大略,速率较快,只有单相时钟驱动,相噪特性较好,且在高频事情条件下,具有一定的功耗上风[7]。数控延时单元构造见图4(c)所示,由b0、b1和b2三位高低电平掌握。假设传输门延时为TC,两级反相器延时为T0,则该延时单元在3位掌握位为000时,得到最短延时为3TC,而在掌握位为111时,得到最长延时为3TC+7T0。因此该延时单元的延时范围即为3TC~3TC+7T0,步进为T0。合理设计传输门和反相器的尺寸,能够得到较优的延时。同时,该电路具有占用面积小、构造大略、易扩展和易移植等优点。
2.3 仿真结果
该PFD基于TSMC 0.18 μm RF CMOS工艺设计,并在Cadence平台下,采取Spectre工具进行仿真。图5所示为未加延时单元时,PFD的实际事情波形。可见,由于逻辑门电路的延时,当输入旗子暗记相位差很小时,存在极窄的脉冲旗子暗记,但该旗子暗记脉宽很窄,仍旧可能会引起去世区效应。图6为增加数控延时单元后,b2、b1和b0从000变革到111时,两个同频同相输入旗子暗记浸染下,PFD的UP输出波形,脉冲宽度随掌握位增大线性增加。图7为b2、b1和b0为100时,不同频输入旗子暗记浸染下,PFD的输出波形。图8为b2、b1和b0为100时,同频不同相输入旗子暗记浸染下,PFD的输出波形。仿真结果表明,本文设计的PFD在同频同相信号浸染下,PFD输出存在一定脉宽的周期性脉冲,担保电荷泵电路开启,可以肃清去世区,担保REF和FB旗子暗记达到同频同相,通过改变掌握位,能方便调节该脉冲宽度,使其保持得当的值。而在不同频以及同频不同相信号浸染下,PFD也实现了精确的脉冲输出,完成鉴频鉴相功能。
3 结论
本文阐述了PFD的事情事理及其去世区效应,提出了一种基于传输门和反相器构造的数控延时单元,并运用于PFD电路。该延时单元具有占用面积小、构造大略、扩展性和移植性好等优点,运用前景好。仿真结果表明,所设计的PFD可以灵巧掌握延时是非,肃清去世区,实现了延时时间足够长又尽可能短的设计目标。
参考文献
[1] LO C W,LUONG H C.A 1.5 V 900 MHz monolithic CMOS fast-switching frequency synthesizer for wireless applications[J].Journal of Solid-State Circuits,2002,37(4):459-470.
[2] CRANINCKX J,STEYAERT MSJ.A fully integrated CMOS DCS-1800 frequency sunthesizer[J].Journal of Solid-State Circuits,1998,33(12):2054-2065.
[3] ROEBER J,BAENISCH A,USSMUELLER T,et al.Frequency synthesizer for digital satellite radio receiving systems[C].//IEEE Wireless Symposium,Xi’an,2014:1-4.
[4] SHARP C A.A 3-state phase detector can improve your next PLL design[J].END,1976:224-228.
[5] RAZAVI B.仿照CMOS集成电路设计[M].陈贵灿,译.西安:西安交通大学出版社,2003.
[6] SOYUER M,MEYER R G.Frequency limitations of a conventional phase frequency detector[J].Journal of Solid-State Circuits,1990,25(4):1019-1022.
[7] JEON S O,CHEUNG T S,CHOI W Y.Phase/frequency detector for high-speed PLL applications[J].Electronics Letters,1998,34(22):2120-2121.
作者信息:
江 平,黄春良,叶宝盛
(中国电子科技集团公司第三十六研究所,浙江 嘉兴314033)