长川科技申请芯片测试机专利实现了当检测到无限重复微指令时持续运行测试向量的同时可以实行预设测试功能_所述_测试

专利择要显示，本申请涉及一种芯片测试机。
包括：所述上位机驱动相应所述运用编程接口下发的第一指令，天生触发启动命令；所述业务FPGA相应所述触发启动命令，调取并运行测试向量，在检讨到所述测试向量中的无限循环微指令时，将所述业务FPGA中的状态寄存器设置为重复实行状态；所述运用编程接口关照所述上位机驱动轮询所述状态寄存器，在获取所述重复实行状态时触发所述上位机驱动；所述上位机驱动掌握所述业务FPGA实行预设测试。
实现了当检测到无限重复微指令时，持续运行测试向量的同时，可以实行预设测试功能，让出测试机打算资源，并且仅需一台测试机运行，无需多台测试机合营运行，极大降落测试本钱。

本文源自金融界