明德股份取得一种芯片多探针测试组件专利提高了组件的适用性大年夜大年夜提高了实用性_滑槽_探针 专利择要显示,本实用新型供应一种芯片多探针测试组件,包括:底座,所述底座的顶部等距开设有第一滑槽,且第一滑槽的数量为多个,所述底座... 科学 2024-08-30 阅读 评论0