明德股份取得一种芯片多探针测试组件专利提高了组件的适用性大年夜大年夜提高了实用性_滑槽_探针

专利择要显示，本实用新型供应一种芯片多探针测试组件，包括：底座，所述底座的顶部等距开设有第一滑槽，且第一滑槽的数量为多个，所述底座的内部通过第一滑槽沿着第一滑槽的长度方向滑动安装有滑块，且滑块的数量为多个，多个所述滑块的底部均螺纹连接有第一旋钮。
本实用新型供应的一种芯片多探针测试组件通过松动第一旋钮使得滑块可以沿着第一滑槽的长度方向滑动，进而调节探针主体的位置，位置调节完毕后锁紧第一旋钮，松动第二旋钮，使得滑动件沿着第二滑槽的长度方向滑动，进而改变探针主体的位置，位置调度完毕后锁紧第二旋钮，由于不同芯片测试时探针位置不同，通过该构造调度探针的位置从而提高了组件的适用性，大大提高了实用性。

本文源自金融界