某QFP器件发生不良,不良率约10%,初步判断为接地焊点可能存在虚焊征象。
No.2 剖析过程 
倾斜45°不雅观察
解释:对样品进行X-ray检测,接地部分呈现明显的阴影雾状,可能存在虚焊问题。
Part.2 接地焊盘切片断面剖析接地焊点切片剖析图
解释:通过切片断面剖析,部品的一侧焊点有明显虚焊,焊锡与器件镀层未互熔,虚焊点两侧有明显锡添补不敷的征象。
切片断面丈量
解释:部品底部焊盘到PCB侧焊盘间隔为0.11㎜,部品底部到引脚底部的间隔为0.11㎜。
Part.3 SEM描述剖析
端子侧焊点未领悟SEM图示解释:器件镀层和焊锡之间存在约5μm的缝隙,界面状态显示二者有浸染过,但未互熔,形成了自然状态的冷却描述。
PCB侧的IMC状态剖析SEM图示
解释:图示位置PCB侧焊锡IMC层状态,整体连续、致密,均匀厚度约在3μm旁边。
Part.4 EDS身分剖析
焊锡未领悟处身分
解释:EDS剖析结果,镀层面紧张有Sn、Cu元素,未检出非常身分。
PCB侧IMC身分
解释:PCB侧为IMC层Ni(18.52)、Sn(76.39%)、Cu(5.09%),无非常元素。
器件接地焊盘镀层身分
解释:从接地焊盘镀层的剖析判断,器件接地镀层为Sn(纯锡)。
Part.5 其他成分对焊锡的影响
器件尺寸影响接地焊接的关键尺寸:A1 Standoff,器件接地焊盘到端子底部的间隔。
解释:上述A1尺寸的丈量结果显示,A1尺寸均靠近0.1mm。发生虚焊产品利用的钢网厚度为0.11mm
A1尺寸的影响:
在开口面积稍大的情形下,锡膏印刷的厚度一样平常会≤0.11mm,回流后由于锡膏体积变小,会发生塌陷。
若A1尺寸偏大,则存在锡膏和接地焊盘不能充分打仗的风险。
回流温度
解释:失落效样工具品生产时采取的替代测温标本,且器件接地部分未监控温度,后续制作对应测温标本,针对接地点的温度实际测试如上图所示。最高温度246.5℃,220℃以上韶光60s,232℃以上韶光40.5s。从焊接温度的适宜性上判断,纵然器件镀层为纯锡,该温度也不会引起虚焊问题(液相韶光充足)。
No.3 剖析结果失落效缘故原由剖析 综合上述检测结果,对接地虚焊的失落效缘故原由剖析如下: 1.失落效特色:焊锡与器件接地焊盘镀层虚焊,二者未互熔,虚焊点两侧有明显锡添补不敷的征象。但从描述剖析,二者在回流过程中有相互打仗浸染,形成了凹凸状,如下图: 2.对器件关键尺寸和回流温度的剖析,器件A1尺寸靠近0.1mm,利用的钢网厚度0.11mm,存在锡膏与器件接地部分打仗不充分的隐患。 基于以上测试及剖析判断,导致器件接地焊盘虚焊的缘故原由为在器件Standoff A1尺寸偏大的情形下,钢网接地部分的厚度为0.11mm,由于回流后锡膏体积减小,形成的焊点高度可能小于0.1mm,从而使焊锡与器件接地焊盘打仗不充分,形成虚焊。 剖析验证 增加QFP接地部分的印锡厚度(利用部分阶梯钢网,0.11→0.15阶梯),进行实际的生产验证,接地部分虚焊的问题未再发生,从而证明了器件Standoff尺寸与钢网厚度匹配性关系存在隐患。 案例启迪 针对QFP封装器件,在钢网设计时,要关注器件Standoff尺寸,确定其允差范围,从钢网厚度(接地局部)上做好预防性规避方法,避免由于器件Standoff允差造成的潜在性焊接失落效。 新阳检测中央有话说: 本篇文章先容了QFP接地虚焊剖析,部分资料来源于网络,侵权删。如需转载本篇文章,后台私信获取授权即可。若未经授权转载,我们将依法掩护法定权利。原创不易,感谢支持! 新阳检测中央将连续分享关于PCB/PCBA、汽车电子及干系电子元器件失落效剖析、可靠性评价、真伪鉴别等方面的专业知识,点击关注获取更多知识分享与资讯信息。






