芯片在事情的时候，不同的工艺、电压、温度会影响芯片的性能，我们不能担保所有芯片都事情在相同的环境中，比如我们的手机在东北要能用，在东北的澡堂子也要能用，以是我们必须要在不同环境下逐一检讨芯片，确保不会涌现缺点才行。一样平常说来，我们只要检讨几个极度的环境，让芯片事情最快的时候和最慢的时候都知足哀求，那么一样平常的环境也就可以知足。我们就称这些极度的环境为corner。一样平常setup检讨要对应最快的corner，hold检讨要对应最慢的corner。
在浩瀚环境成分中，有一项是net的寄生参数RC值，它可以反响net的delay大小。大学的时候都学过RC电路一阶相应，公式已经不记得了，只记得电路RC值越大，电路充放电越慢，RC越小，充放电越快。以是一样平常来说，net的电容越小，电阻越小，这段net的delay就越小。
一段net的R值很随意马虎理解，C值怎么算呢？如果我没记错的话，这里的电容包含三个部分：同层金属线间的耦合电容，导线对地电容，还有一个导线侧面对地的边缘电容。
要算delay不能大略只看net上的RC值，毕竟供电是从前面的driving cell来的，因此还要考虑driver的RC。在早期工艺，一样平常cell的R值都远大于net的R值，与C相乘的时候net的R就可以忽略不计，以是对付一条net来讲，它的C是我们要重点关注的，可以说这时候电容占主导地位。C最大的时候，net delay最大，C最小的时候，net delay最小。由此我们衍生出两个corner：
cbest(Cmin) cworst(Cmax)
讲到这里我溘然想强调一点，这两个corner都是针对同一条net而言的，便是说实在芯片的net上的RC值并不是一个定值，在实际事情时会在一个范围内浮动，我们通过抽RC的工具就可以确定这个浮动范围，然后选择上面讲的两个极值作为我们的两个RC corner。
而后，随着工艺的进步，cell的R值不再“远大于”net的R值，尤其比拟较长的net，它的电阻已经到了不可忽略的地步，因此再单单选用C的极大极小来代表net delay的极大极小变得不再那么可取，以是我们要综合考虑net的RC情形。详细过程有点繁芜，为了方便理解，我就讲一下我自己理解的简化版本。我们要考虑的是（cell电阻+net电阻）（cell电容+net电容），把这个式子展开后可以得到一项cell电阻cell电容，可以先忽略，第二项net电阻net电容，以及cell电阻net电容+cell电容net电阻。Net上电容和电阻有一定负干系性，外界环境变革时，net电容如果减小，电阻一样平常会变大。当net的电阻大到一定成都，cell电阻小到一定程度，net上的RC相乘的积就能占主导地位，这个积的极值就可以代表net的delay的极值。一样平常来说RC最大的时候，C要比Cmax稍眇小一点，R和Rmax差不太多。这样我们就又有两个corner：
Rcbest rcworst
并不是说在前辈工艺下cbest cworst corner就没用了，实际上，只有当导线比较长的时候，delay的极值才会发生在rcbest和rcworst的corner上，对付短导线、driver电阻很大的时候，cbest和cworst才能反响delay的极值。以是实际为了稳妥起见，这四个corner我们都会进行signoff。
其余如果考虑DPT（double pattern technology），corner名字后面会再带一个CCworst或者CCbest。考虑OCV的variation还有可能带一个字母T。这些便是比较深入的了，我也要连续学习才行呀。希望本日的文章能对大家有所帮助。
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