龙芯中科申请芯片验证方法专利降低了芯片验证的时间成本_向量_芯片

专利择要显示，本发明履行例供应了一种芯片验证方法、装置、电子设备及可读存储介质，通过将多条初始测试向量作为待更新向量，获取各待更新向量对待验证芯片的测试覆盖率，并基于各待更新向量的测试覆盖率从待更新向量中确定参照向量；对付任一待更新向量，基于参照向量以及其他待更新向量对待更新向量进行更新，得到更新后向量；基于各更新后向量确定新的待更新向量，并重新实行获取各待更新向量对待验证芯片的测试覆盖率的操作；在知足更新停滞条件的情形下，采取当前的更新后向量对待验证芯片进行验证，降落了芯片验证的韶光本钱。

本文源自金融界