B组验证是ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS 加速生命周期仿照验证
本文将重点对B组的第2项ELFR - Early Life Failure Rate早期寿命失落效率验证项目，一样平常简称为早夭实验，进行展开谈论。
Early Life Failure Rate - ELFR - 早期寿命失落效率
ELFR规范用于评估利用新或未履历证的加工技能或设计规则的产品，因此一种验证早期寿命失落效特性的测试方法。包括没有运用或利用履历或通用数据的产品。
如果测试不通过表明须要采纳纠正方法，产品可能须要改变加工、设计、老化、更严格的老化设计，或采取统计零件测试来设计极限值(见AEC-Q001)。
表格中信息先容和解读
表格中的信息给出，ELFR的分类是B2，Notes中包含了H、P、B、N、G也便是说哀求密封器件、塑封器件、哀求BGA器件、非毁坏性测试、承认通用数据。
需求的样品数量是每批次800颗样品，哀求来自3个批次；
接管标准便是0失落效；
参考文件是AEC Q100-008；
附加需求：
通过此验证的产品可用于其他的压力测试。
通用数据是适用的。
ELFR前后试验要进行室温和高温下的电性能测试。
表格解读：
ELFR早夭实验，是非毁坏性的，虽然样品需求量比较大，但是还可以用于其他的项目，而且如果该家族产品接管过早夭验证，这项验证可以选择性的进行。
但是这项实验是须要给产品上电的，参照HTOL的标准进行，以是要制作电路板，这部分电路板后续也可以用于HTOL等其他验证。
下面让我们看一下ELFR的参考文件AEC Q100-008，这是AEC-Q100标准自身的第8个附件。
AEC - Q100-008 REV-A ELFR先容适用范围
ELFR早夭验证，此测试方法适用于所有IC部件的认证。在很多产品同时认证的情形下，通用数据(见Q100, 2.3节)也可以用来支撑此验证。如果供应商正在评定一个没有通用数据(未履历证的技能或设计规则)可用于通用的部件，则应利用该测试方法的哀求知足Q100的哀求。如果供应商为单个用户评定某一产品，该用户可选择指定AEC-Q001的履行作为ELFR的替代。用于这种鉴定的所有产品必须经由Q001测试和用户批准的高下限值的评估。如果利用AEC-Q001，客户应审查和批准用于确定试验限值的特定试验和方法。(注:在ELFR和Q001的失落效并不总是显示出1:1的干系性。)
验证流程
样品数量的选择样品量应按Q100的表2规定（800pcs3lot），如果样品本钱太贵，利用这种测试方法的哀求和样品大小将基于用户和供应商之间的协议。（也便是验证数量可以和客户商量）
ELFR流程这些产品应按照JESD22-A108中的高温事情寿命(HTOL)哀求，在以下分外条件下进行测试。环境测试温度和持续韶光应符合以下适用的事情温度等级:
0级:+150ºC 环境温度 48小时；或者+175ºC 环境温度 24小时。
1级:+125℃ 环境温度 48小时；或者+150ºC 环境温度 24小时。
2级:+105ºC 环境温度 48小时；或者+125ºC 环境温度 24小时。
3级:+85ºC 环境温度 48小时；或者+105ºC 环境温度 24小时。
3级:+70ºC 环境温度 48小时；或者+90ºC 环境温度 24小时。
接管标准产品要在高温实验后48小时内进行电性能测试。
测试应在室温下进行，然后是高温。测试期间的失落败是不可接管的，如果失落效必须采纳纠正方法。供应商应将此不符合条件以及已经/将要采纳的纠正方法关照所有干系用户。用户必须对将认证的产品所采纳的纠正方法予以批准。
实验样品的处理在此测试之后通过电气测试的部件可用于其他非上电事情干系的测试。
如果用户赞许，这些样品也可以作为生产原材料供货。
总结ELFR早夭实验过程比较大略，便是想要创造产品在早期寿命的稳定性，以是实验韶光也很短，根据Arrhenius方程算法，在默认0.7eV活化能的情形下，1级标准相称于日常利用3773小时的事情韶光，大约连续利用半年韶光。
根据电子产品失落效的浴盆模型，大多数的电子产品工艺和设计毛病，会在早期利用过程中暴露出来，这也是早夭验证设置的目的。
本文对AEC-Q100 B组的第2项内容ELFR早夭进行了先容和解读，希望对大家有所帮助。
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