文︱罗艺
图︱网络
测试验证是半导体厂商进行成品合格率（良率）管理的紧张方法，它贯穿于集成电路设计开拓、生产制造的全流程，每一个环节的测试结果都对终极良率有影响，综合测试结果是判断一颗芯片产品能否在市场上发卖的关键依据。
封装与测试常常被统计在一起，但实际上，测试并不是只存在于封装环节。在芯片开拓阶段，就要考虑可测试性设计（DFT），以确保大部分设计功能均能被测试到；在晶圆制造的过程中，须要对工艺掌握的关键参数进行考验；晶圆探针测试（CP测试）通过探针来对裸芯片进行基本功能及电气特性检测，以筛查有制造毛病的裸芯片；通过CP测试的裸芯片被送上封装产线，完成封装的成品进行终测（FT）；通过终测的产品，终极将出售到市场上。
“测试是掩护电子产品质量与品牌的关键一步，也是决定产品本钱的关键一步，把产品上市交给泰瑞达，泰瑞达便是电子家当的品牌守卫者。” 泰瑞达有限公司业务计策总监Natalian Der强调测试环节在电子家当的主要性。她举了一个例子，汽车里面用到7000多个电子元器件，常日电子元器件的不良率以百万分之一（PPM）来统计，单一元器件1个PPM的不良率在消费电子领域属于优秀的指标，但放入汽车中，7000多个电子元器件如果都有1PPM或以上的不良率，折合到整车，每辆车因电子系统导致的不良率就高达0.7%，一千辆车有7辆车会出问题，这对汽车业而言“是无法承受的结果”。
泰瑞达2019第三季度古迹
为了实现电子系统在整车运用上的PPM级别不良率，乃至是所谓的“零公里障碍”，就须要对电子元器件做更严格的筛选，车载电子元器件单一不良率常日在1个PPB（十亿分之一）或以下，寿命要高达10年以上，是日然就依赖测试结果来判断：该批次芯片能不能用、好不好用、能用多久。测试本钱高是车载元器件比较消费级元器件本钱高的紧张缘故原由之一。
Natalian见告探索科技（techsugar），不管是车载元器件，还是消费用电子元器件，量产测试都是末了一道把关工序，而且是间隔上市韶光最近的一道工序，以是测试工程师的韶光压力非常大。“测试工程师承担着末了的冲刺任务，什么时候测试完成，产品才能够推向市场，测试环节也是本钱管控的末了环节，如果不良率太高，将极大影响本钱，测试工程师把控良率、提高产量，同时最关键要担保质量，以是测试是芯片生产过程中很主要的环节，成功的测试供应了产品终极质量的担保。”
Natalian先容，伴随技能的发展，测试工程师的事情也面临着更多寻衅。首先，设计工艺的进步提高了集成度，但前辈工艺的可靠性相对降落，毛病率也在增加，而社会对整机产品质量标准哀求越来越高，这就给测试事情增加了极大的难度。
其次，芯片开拓周期有缩短的趋势。消费电子向来以换代快著称，但Natalian表示，传统的工业电子与汽车电子更新换代速率也在加快，“调查表明，68%的汽车电子芯片在两年内完成开拓到上市的事情，越来越短的开拓周期，加上越来越多的功能，工程师须要更前辈的工具来完成测试事情。”
末了，终端产品多样化导致芯片种类多样化，测试厂商希望测试平台能具备更大灵巧性，以适应更多种类芯片的测试，从而降落芯片测试的固定设备投入。
作为老牌测试设备厂商，泰瑞达针对上述寻衅已经有应对方案。利用泰瑞达可拓展测试架构，可以知足当代芯片测试对灵巧性的需求，无论是仿照、射频还是数字类芯片，只需选择相对应的测试板卡，就可以接入泰瑞达测试系统。
在测试加速上，泰瑞达的办理方案支持并行测试。“并行测试是最有效的加速方法，可以大幅降落单芯片测试韶光与本钱。同时，泰瑞达的测试环境是图形化界面，测试工程师很随意马虎上手，快速准确地完成测试任务，缩短产品上市韶光。”
Natalian还指出，微调度（trim）在测试中越来越常用，在测试韶光中所占比例也逐步提高。她表示，前辈工艺制造时更随意马虎涌现偏差，这时候通过微调度，可以把大部分不达标芯片参数值调度到规格之内。“工艺尺寸越来越小，通过可生产性设计来进行产品修复越来越普遍，尤其是射频和仿照产品。通过trim可以调度电压、电流与频率，让芯片终极知足设计目标。”Natalian阐明道，“以射频为例，trim韶光达到了全体测试韶光的40%以上，乃至能达到60%。”
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