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IC芯片开封试验方法_芯片_发烟

雨夜梧桐 2024-11-25 01:51:03 0

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Au线堕落液:发烟硝酸(事情温度100度)

Cu线堕落液:发烟硝酸5:硫酸3(事情温度100度)

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Ag线堕落液:发烟硝酸+碘少量,稠浊成乳白色即可(事情温度100度)

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(图片来自网络侵删)

Al线堕落液:发烟硝酸(IC器件事情温度100度,大功率器件事情温度85度)

激光开封

芯片开封前用X射线透视仪不雅观察晶圆在塑封中的位置并识别键合线类型,在激光开封机上对应芯片晶圆位置,选择得当开封区域(大于晶圆位置即可,开封后要担保有一个凹槽,防止下一步堕落液外溢,损伤引脚),选择得当的扫描速率和功率,激光开封机减薄至键合丝涌现,待化学开封。

化学开封

根据键合线类型,将电炉调度得当事情温度,将芯片放在电炉上加热,芯片正面朝上。
用吸管吸取少量化学堕落液,滴在经激光开封后的凹槽中,树脂表面发生化学反应,涌现气泡。
反应轻微停滞后,再滴一次。
连续滴5-10滴后,用镊子夹住,用盛有丙酮的洗瓶将堕落的塑封料吹走,芯片放入含丙酮的烧杯中,在超声波机中洗濯2-5分钟,然后取出再滴。
重复这一步骤,直到芯片完备暴露出来。
末了,反复用干净的丙酮清洁,以确保芯片表面没有残留物。

将所有产品一次放入98%的浓硫酸中煮沸。
这种方法更适宜样品量大,哀求不高,只须要不雅观察芯片表面是反对裂。
须要把稳的是,操作过程中要把稳安全。

机器开封

针对空封器件,利用机器开封机,将空封器件金属盖剪切下来,或者利用研磨的方法将空封器件金属盖周边磨至接合处(明显看到接缝又没有完备开,如果磨至金属盖全开,可能会有水和其他污染进入空封器件内,这样会污染晶圆表面),然后用手术刀沿着接缝将金属盖划开,把稳力度和方向,不要损伤键合线和晶圆表面。

开封的目的

开封后,我们能清晰看到芯片表面状态,不雅观察芯片划片道是否有崩边、裂纹,不雅观察芯片表面是否存在非常,不雅观察芯片logo信息,丈量芯片尺寸和键合线线径,不雅观察键合线材质,不雅观察钝化层的完全性等芯片内部信息。

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