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赋能汽车芯片零缺陷!泰瑞达的回答:策略、流程与对象_测试_芯片

少女玫瑰心 2024-11-25 03:58:21 0

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5G、人工智能、汽车芯片等发达发展,中国芯片需求呈现爆发增长,作为ATE设备领军企业,泰瑞达(TERADYNE)见证了中国半导体的快速发展。

2023年11月9日,泰瑞达(TERADYNE)的媒体沟通会上,泰瑞达亚太区发卖副总裁Richard Hsieh师长西席、泰瑞达中国区发卖副总经理黄飞鸿与芯榜等媒体做了线下沟通。

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个中,泰瑞达亚太区发卖副总裁Richard Hsieh师长西席,用行业深耕20余年积累的履历,回顾和分享半导体测试设备行业发展进程中所扮演的不同角色,并向大家先容泰瑞达测试办理方案如何从始至终帮助行业达到降本增效、协同创新、助力客户取得胜利的目标。

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(图片来自网络侵删)

中国区总经理Felix(黄飞鸿)师长西席分享了《前辈节点下汽车芯片所面临的寻衅与善策》主题演讲,进一步理解泰瑞达在芯片领域有哪些建树和见地。

芯片测试寻衅与机遇

向1nm演进更繁芜的测试需求,成熟制程依旧运用前景广泛

随着技能的飞速发展,芯片测试家当面临着前所未有的寻衅。
从90年代的0.8μm制程到如今的2nm、3nm,乃至向1nm制程演进,技能的进步带来了更繁芜的测试需求。

在功能方面,随着芯片设计的日益繁芜化,测试速率必须越来越快。
同时,不同的芯片设计须要不同的制程技能,如数字芯片与仿照、RF芯片的制程有很大的不同。
如何在CMOS制程中制造出知足不同设计需求的芯片,是一个巨大的寻衅。

Richard 向媒体展示了泰瑞杀青长的三个阶段:功能性时期、成本效率时期、繁芜性时期。

1、功能性时期

在功能方面,随着芯片设计的日益繁芜化,测试速率必须越来越快。
同时,不同的芯片设计须要不同的制程技能,如数字芯片与仿照、RF芯片的制程有很大的不同。
如何在CMOS制程中制造出知足不同设计需求的芯片,是一个巨大的寻衅。

泰瑞达从1990年到2025年,针对不同的芯片测试需求,推出了多个平台。
令人惊喜的是,有些客户至今仍在利用泰瑞达在90年代推出的机台,如J750。
这充分证明了我们在设备耐用性和长期产品生命周期管理方面的上风。

2、成本效率时期

在成本投资方面,有效利用资产是关键。
重成本投资的测试家傍边,如何实现资产的高效利用,提高回报率,是每个投资者都关注的问题。
我们看重提高设备的测试效率和利用率,让资产发挥最大的代价。

3、繁芜性时期。

同时,泰瑞达也看到测试的繁芜性以及芯片设计的繁芜性带来的寻衅。
随着晶体管数量的不断增加,AI芯片设计的规模越来越大,如何降落生产本钱并提高效率成为一个主要的问题。
这须要我们不断提升同测数的数量以及接口设计的繁芜性。
此外,高阶制程带来的大量测试数据须要进行剖析和运用,以提升芯片的设计和量产良率。
不同的制程技能须要运用在不同的领域中,并不是每个都须要走向高阶制程。
异构集成的寻衅在于如何将不同的芯片集成在一起,包括前辈封装的办法或小芯片的设计方案。

前辈的设备、完全的软件:泰瑞达从芯片设计到成品测试提升生产良率

高阶制程带来的大量测试数据须要进行剖析和运用,以提升芯片的设计和量产良率。
不同的制程技能须要运用在不同的领域中,并不是每个都须要走向高阶制程。
异构集成的寻衅在于如何将不同的芯片集成在一起,包括前辈封装的办法或小芯片的设计方案。

只管面临诸多寻衅,但我们也看到了许多新的机遇。
新的硅技能如SicGaN和SiPh为全体半导体家当带来了新的发展阶段。
14nm、5nm、7nm乃至28nm都有广泛的运用前景。
成熟制程和新的制程技能将为全体芯片家当带来更好的发展,创造更多的机会。
为了应对这些寻衅并捉住这些机遇,泰瑞达供应了一系列的办理方案。

我们不仅有前辈的测试设备,还有完全的软件工具,可以连接到EDA工具,从芯片设计到成品测试提升生产良率。
我们的目标是帮助客户缩短上市韶光并提高产品质量。

在功率领域,随着新能源汽车的发展,车用半导体市场也将迎来巨大的发展机遇。
我们将连续致力于提高吞吐量和单位面积的产出,并降落全体生产本钱。

产品方面,我们从功率部分到逻辑部分,再到高阶UltraFLEXplus,存储器机台以及系统级测试机台,都有完全的产品线来知足不同的测试需求。

末了,我们强调泰瑞达的核心代价:我们能够帮助客户缩短上市韶光并实现即时生产。
我们致力于为客户供应高效、可靠的办理方案,助力他们在竞争激烈的市场中取获胜利。

前辈节点下汽车芯片所面临的寻衅与善策

一、家当趋势:电动汽车(EV)和自动驾驶驱动芯片发展

电动汽车(EV)和自动驾驶的发展驱动了半导体在汽车中的数量和金额不断增加。

电动汽车(EV)和自动驾驶作为半导体在汽车中数量和金额不断增加的两个紧张驱动力。
随着科技的不断进步,电动汽车的市场份额估量在未来几年内将持续增长,这将对半导体行业产生积极的影响。
泰瑞达预估5年后电动汽车芯片所占比重翻倍。

从L0到L4的全自动驾驶。
从目前来看,家当紧张关注的是L1和L2级别的自动驾驶,并且逐渐向L2有条件的自动驾驶方向发展。
这种发展趋势导致每辆车中利用的半导体器件数量也在翻倍增长。

随着自动驾驶技能的不断发展,汽车中利用的半导体芯片和器件的数量和比重也在不断增加。
这为半导体行业带来了巨大的机遇,由于汽车市场的增长将推动半导体行业的发展。
同时,这也对半导体测试行业提出了更高的哀求,由于须要测试更多的芯片和器件以确保其质量和可靠性。

二、中国引领:汽车生产和电动汽车出货量均处于领先

未来五年内,中国的汽车生产量占比将逐年增加,从目前的30%逐渐增加到33%或35%,霸占环球汽车生产量的最大比重。
这种增长背后的紧张驱动力是电动汽车(EV)的快速发展。
从另一张图可以看出,截至去年为止,中国地区的电动汽车占比已经超过了环球一半。

三、车规芯片:追求零毛病,付出更高本钱

车规芯片追求的是零质量毛病的目标,这须要通过一系列严格的质量掌握流程来确保。
个中包括功能和技能验证,以及产品的全流程质量掌握。
为了担保高质量,也须要付出更高的本钱。

零毛病框架——功能/流程流

质量本钱——剖析中必须考虑的成分

质量掌握对付芯片行业至关主要,须要从设计初期就考虑到质量本钱问题,并制订好相应的测试方案和策略,以确保产品的质量和本钱掌握。

四、追求零质量毛病!
泰瑞达的答案:策略、流程和工具

要达到汽车质量零毛病,须要考虑测试策略、流程和工具的支持。

测试策略须要在设计芯片的初期就考虑,并覆盖从设计到量产的每个环节,以确保达到0 DPPM(每百万个产品中涌现的毛病数量)的效果。
在流程方面,须要实现多步骤和多人的协作,尽可能自动化以减少人为成分带来的问题。
工具方面,须要有可靠的工具进行实时性、可预测性和智能性的剖析。

数据、数据、数据,从前到后,背后流动的便是大数据,海量的数据支撑要达到0 DPPM。

策略:灵巧(FLEX)

泰瑞达(TERADYNE)通过灵巧的测试策略、流程和工具来优化质量本钱并达到零毛病目标。

灵巧的测试策略须要考虑不同阶段的测试流程,包括晶圆测试、成品测试和系统级测试。

在实现测试流程的过程中,须要多步骤协作、多人协作,尽可能自动化以减少人为成分带来的问题。

可靠的测试工具能够进行实时性、可预测性和智能性的剖析,海量数据是达到零毛病的关键。

在设计阶段就要考虑测试策略,通过EDA工具连接测试机,实现实时在线调试。

反馈结果到Fab,可以及早创造问题并改动,从而优化质量本钱并达到零毛病目标。

作为灵巧测试的一部分,泰瑞达先容了一种用于IC设计的工具——PortBridge,它是一个沟通桥梁,可以帮助IC设计和ATE测试职员更好地沟通和协作。

PortBridge是一个专门的软件工具,作为西门子EDA Tessent工具的界面接口,起到了沟通桥梁的浸染。
原来IC设计职员和ATE测试职员之间难以沟通,有了PortBridge后,他们可以通过Mentor Graphics的理念,用EDA工具直接连接测试机。

PortBridge软件安装在测试机方面,其余一端可以通过EDA工具进行访问,直接通过测试机掌握晶圆测试、成品测试和SLT,根据测试结果进行实时在线调试。

在设计阶段就可以直接查看ATE的测试结果,有助于在早期阶段调试良率和反馈到Fab。

PortBridge还可以用于调试IP,通过直接访问每个IP并进行调试,加速IP跟全体芯片的领悟。

流程:多快好省

Felix(黄飞鸿)师长西席先容测试程序的繁芜性随着韶光在不断增加,从最初的大略丈量电压、电流,到现在的测试繁芜功能和不同场景,代码量已经达到了惊人的程度。
过去,一个或几个测试工程师就能完成测试程序的开拓,但现在由于开拓周期的缩短和测试需求的增加,须要多人协同开拓,乃至利用自动化和智能化工具来提高效率。

测试流程终极要做到程序的多快好省,质量又能够达到哀求,终极才能够发布生产。

泰瑞达公司利用的软件工具IG-XL和Oasis,以及全流程管理软件DevOps。

IG-XL软件在ATE行业中是最好的开拓软件,其实用性和易用性都非常出色,稳定性也得到了广泛认可。

基于IG-XL软件,泰瑞达公司还开拓了一个赞助工具Oasis,用于检测代码质量。
在Offline阶段运行Oasis工具可以自动检讨不同工程师编写的代码是否存在缺点或冗余。

工具:

硬件方面:泰瑞达拥有完全的硬件测试办理方案,包括针对不同制程和设计繁芜性的测试机台,以知足不断增长的车规芯片测试需求。
同时,公司也在持续投资研发,以供应更高效、更可靠的测试设备和解决方案。

Felix(黄飞鸿)师长西席重点先容了泰瑞达的两个工具:UltraEDGE、FDE

UltraEDGE:具有数据剖析和反馈功能。
它可以将大量测试数据进行剖析,形成晶圆图,并反馈给代工厂以调度工艺参数和优化工艺流程。
这个工具用于端到真个剖析,旨在提高良率和降落本钱。

FDE(Fault Detect Engine):这是一个已推出五六年的软件工具,用于对测试结果进行不同的统计剖析。
它可以比较不同阶段的测试结果,识别潜在毛病和进行质量统计。
这个工具可以安装在大规模做事器上,用于对大量数据进行加密和机器学习,从而进行更准确的质量掌握和工艺调度。

五、零毛病背后:数据、数据、数据

零毛病是芯片家当永久的目标。
数据是实现这一目标的关键,通过网络和剖析不同阶段的数据,可以理解产品质量和问题所在。

泰瑞达为实现零毛病的路径:首先测试一定要定义好测试策略,包括用EDA软件做早期的器件调试,像PortBridge工具。
在全体开拓和发布的流程中,要用IG-XL、Oasis担保测试程序质量的可靠;剖析从前到后的数据,要有很强大的数据剖析软件,才能实现测试零毛病。

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