专利择要显示,本实用新型属于硬件技能领域,更详细地,涉及一种光学芯片打线通断智能检测装置,本装置包括:检测电路和旗子暗记识别模块,光学芯片上的引脚通过金线打线与电路板上的金手指PAD连接,所述金手指PAD连接电路接口,所述检测电路包括输入端与输出端,所述输入端连接所述电路接口,所述输出端连接所述旗子暗记识别模块,所述旗子暗记识别模块用于检测所述输出真个电平,并根据所述输出真个电平状态判断所述光学芯片打线的成功或失落败,首先将LCOS芯片的引脚连接到电路板PAD上,然后电路板PAD通过电路接口将旗子暗记连接到检测电路,旗子暗记识别模块通过检测所述检测电路输出真个电平状态来检测LCOS芯片打线的状态,使得对LCOS芯片引脚打线成功或者失落败的检测更加快速与便捷。
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