长鑫存储申请时序逻辑元件机能检查方法及设备专利能够有效提升集成电路的设计效率_时序_元件

专利择要显示，本公开履行例供应一种时序逻辑元件性能检讨方法及设备，涉及半导体技能领域，在对待仿真电路进行检讨时，获取待仿真电路中各个时序逻辑元件对应的性能检讨文件，然后基于各个时序逻辑元件对应的性能检讨文件，采取多种仿真波形分别对待仿真电路进行仿真，得到仿真结果；个中，上述性能检讨文件可以在仿真过程中检讨各个时序逻辑元件的目标特性参数是否知足预设条件，并在仿真结果中输出目标特性参数不知足预设条件的目标时序逻辑元件的标识信息，相较于人工检讨的办法，不仅省时省力，而且准确性更高，从而能够有效提升集成电路的设计效率。

本文源自金融界