MIPI规范共有六种类型的接口，个中MIPI规范中的多媒体(Multimedia)种别，如下图所示，紧张分为三个层面：
◆ 运用层(Application Layer)◆ 协定层(Protocol Layer)◆ 物理层(PHY Layer)
来源：MIPI Alliance
而MIPI紧张运用类型可分为Camera(CSI)、Display(DSI)、Storage(UFS)。
犹如多数的技能接口，MIPI同盟也有制订一份标准测试文件来明确定义测试条件、方法与项目，MIPI的测试文件称为规格同等性测试(CTS/Conformance Test Suit)文件，通过同等性测试可以有效减少影像拍照画面噪声/模糊/失落真、影像延迟等问题。
和一样平常认证测试不同的是厂商可参照测试文件指引自行实行同等性测试，可不用透过协会认可的第三方认证实验室实行测试。若要实行此测试，必须先备齐干系测试设备及环境，然而根据百佳泰多年测试履历，多数厂商碰到最大的问题是并不是在这部分，而是没有足够的测试履历。由于MIPI多用于移动设备内部，必须透过焊接或是探针直接连接办法进行量测，相较于一样平常常见的USB、HDMI等外接接口，量测困难度增加许多。
百佳泰将以常见的D-PHY/C-PHY为例分享产品在测试时常碰着的问题。
认识MIPI D-PHYMIPI D-PHY是一种结合高速、低功耗的讯号传输模式，紧张运用于Camera(CSI)、Display (DSI)。
讯号组合1对Clock差分讯号以及1~4对Data差分讯号，支持HS mode(High Speed)和LP mode(Low Power)模式之间切换。
HS mode: 低电压传输，最高数据传输速率为每Lane 1Gpbs~9Gbps
【01】Transmitter(TX)测试的哀求与方法：
由于智能型手机、平板电脑、车机上的镜头接口跟影像显示接口都已是成品的阶段，犹如前面所提到的，若要进行讯号测试就只能透过焊接或是探针直接连接办法进行量测。
下图是测试环境的连接示意图：
测试设备是利用Keysight D9020DPHC及符合性测试软件，针对MIPI D-PHY v2.1第9节以下及C-PHY CTS V2.1第1节以下的规格进行完全测试。
【02】紧张测项如下：
◈ High Speed Data/Clock TX
◈ Low Power Data/Clock TX
◈ Data/Clock Transmitter(HS Entry、HS Exit）
◈ High Speed Data-Clock Timing
认识MIPI C-PHY与D-PHY相同，结合高速、低功耗的讯号传输模式，运用于(CSI、DSI)。
两者紧张差异点如下：
【01】Transmitter(TX)测试的哀求与方法：
测试设备是利用Keysight D9010CPHC MIPI C-PHY Compliance Test Software，可针对MIPI C-PHY v1.2第9节和C-PHY CTS v1.1第1节的规格进行完全测试。
【02】紧张测项如下：
◈ High-Speed Transmitter(HS-TX)Electrical Tests
◈ Global Timing Tests(T3-Prepare、HS Exit)
上图撷取不同模式，进行讯号的示意图
案例分享【01】量测位置影响测试质量
MIPI D-PHY/C-PHY TX紧张规范是量测芯片输出端。
如测试点位位置过远，那么就会影响讯号的衰减，且当driver能力不足时会造成rise/fall爬升能力不足，导致over spec、质量讯号较差。
D-PHY
C-PHY
【02】芯片timing参数设定调度有误导致测试Fail
因芯片timing参数设定问题，导致Data/Clock Transmitter(HS Entry、HS Exit)timing fail。百佳泰建议Timing skew fail可透过芯片商供应修正参数来调度。
如下图可见当数值低于50，则会导致over spec；反之，如数值高于50，数据结果会涌现Pass。
