裕太微-U申请一种芯片内测试电路专利提高了测试效率_暗记_模块

专利择要显示，本发明涉及集成电路测试技能领域，详细涉及一种芯片内测试电路，包括：芯片内测试电路包括数据选择器模块；数据选择器模块的第一输入端连接数字电路的输出端，数据选择器模块的第二输入端连接模数转换器的输出端，数据选择器模块的输出端连接输入输出接口；当外部的上位机须要对待测芯片进行测试时，上位机连接输入输出接口，并掌握数据选择器模块经由数字电路切换至模数转换器，以使得上位机获取模数转换器的输出旗子暗记并进行测试。
有益效果在于：引入了数据选择器模块对数字电路的输出旗子暗记或者模数转换器的输出旗子暗记进行切换，使得外部的上位机可以直接从输入输出端口上读取到模数转换器的输出旗子暗记进行测试，而不须要额外流片，提高了测试效率。

本文源自金融界