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专利择要显示,本申请涉及芯片测试技能领域,特殊是涉及一种芯片测试机时钟同步方法、装置、电子设备、存储介质。芯片测试机包括主背板以及多少个从背板,主背板包括高精度时钟芯片以及第一可编程逻辑芯片,方法包括:相应于进行时钟同步处理的指令,配置并发送预设频率的低频检测时钟旗子暗记;当检测到低频检测时钟旗子暗记时,基于高精度时钟芯片配置目标频率的高精度时钟旗子暗记,目标频率高于预设频率;当验证第一可编程逻辑芯片和第二可编程逻辑芯片当前获取的时钟旗子暗记知足预设的状态约束条件时,基于高精度时钟芯片发送高精度时钟旗子暗记至第一可编程逻辑芯片和第二可编程逻辑芯片,以完成所有测试板卡的时钟同步。采取本方法能够提高时钟同步处理的精度和稳定性。
本文源自金融界


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