长鑫存储申请存储芯片测试方法及装配、介质及设备专利专利技能能对读写时钟均衡功能进行测试_芯片_时钟

专利择要显示，本公开是关于一种存储芯片测试方法、存储芯片测试装置、打算机可读存储介质及电子设备，涉及集成电路技能领域。
该存储芯片测试方法包括：向存储芯片发送模式寄存器写入命令，掌握存储芯片进入读写时钟均衡测试模式；设定第一预设韶光，等待第一预设韶光后，向存储芯片发送读写时钟旗子暗记；根据第一预设韶光和系统时钟周期，确定读写时钟均衡的预测值；发完读写时钟旗子暗记后等待第二预设韶光，检测存储芯片的测试数据输出端口，获取测试值；比较测试值和预测值，判断存储芯片是否存在非常。
本公开供应一种对读写时钟均衡功能进行测试的方法。

本文源自金融界