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力芯微取得磁条卡信息读取集成电路测试专利有效提高测试产能、降低测试成本_测试_电路

南宫静远 2024-09-04 16:02:08 0

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专利择要显示，本发明涉及一种磁条卡信息读取集成电路的测试方法及测试电路，涉及电子电路技能领域。
本发明包括测试被测电路解码功能、刷卡波形、内部放大器增益以及被测电路IDD电流的方法及其电路。
通过上述测试方法及其电路，能完备记录实际刷卡波形的所有特色，包括波形频率、幅度和形状特色，从而有效实现对磁条卡解码电路的解码功能、内部放大器增益、IDD电流等参数进行测试，测试参数过程自动化，从而提高测试产能、降落了测试本钱。

本文源自金融界

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（图片来自网络侵删）
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